Варианты поиска Открыть Спрятать
  
  илиСбросить
Сортировать по цене: дешевые выше
50 На страницу
Анализ микро- и наноструктуры твердотельных объектов, измерение линейных размеров деталей структуры, наблюдаемых на изображении, и межплоскостных расстояний в режиме дифракции на просвечивающем электронном микроскопе JEM-2100
18 000.00 ₽

Анализ микро- и наноструктуры твердотельных объектов, измерение линейных размеров деталей структуры, наблюдаемых на изображении, и межплоскостных  расстояний  в режиме дифракции на просвечивающем электронном микроскопе JEM-2100

Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, элементный анализ от В до U на растровом электронном микроскопе JSM-6460LV и микроприставкой INCAX-SIGHT
18 000.00 ₽

Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, элементный анализ от В до U на растровом электронном микроскопе JSM-6460LV и микроприставкой INCAX-SIGHT

Анализ питьевой воды по 63 показателям: pH, жесткость, мутность, сухой остаток, минерализация, электропроводность, цветность, щелочность, запахи, неорганика, элементы и др
18 000.00 ₽

Анализ питьевой воды по 63 показателям: pH, жесткость, мутность, сухой остаток, минерализация, электропроводность, цветность, щелочность, запахи, неорганика, элементы и др

Исследование образца методом синхронного термического анализа (дифференциальная сканирующая калориметрия)
18 000.00 ₽

Исследование образца методом синхронного термического анализа (дифференциальная сканирующая калориметрия)

Масс-спектральный анализ матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации образца в линейном режиме
18 000.00 ₽

Масс-спектральный анализ матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации образца в линейном режиме

Определение точного значения массы иона с помощью матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации
18 000.00 ₽

Определение точного значения массы иона с помощью матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации

Определение удельной поверхности, общей пористости, распределения пор по размерам
18 000.00 ₽

Определение удельной поверхности, общей пористости, распределения пор по размерам

Выполнение лабораторного анализа определения концентрации ртути в жидкой пробе
18 000.00 ₽

Выполнение лабораторного анализа определения концентрации ртути в жидкой пробе

Исследование образца методом ИК-микроскопии с помощью вакуумного ИК-Фурье спектрометра Vertex 70v и инфракрасного микроскопа HYPERION 3000
18 000.00 ₽

Исследование образца методом ИК-микроскопии с помощью вакуумного ИК-Фурье спектрометра Vertex 70v и инфракрасного микроскопа HYPERION 3000

Исследование твердого образца методом термодесорбционной газовой хромато-масс спектрометрии
18 000.00 ₽

Исследование твердого образца методом термодесорбционной газовой хромато-масс спектрометрии

Определение жиро- и водорастворимых антиоксидантов хемилюминесцентным методом на анализаторе антиоксидантной активности PHOTOCHEM (3 комплекта образцов)
18 000.00 ₽

Определение жиро- и водорастворимых антиоксидантов хемилюминесцентным методом на анализаторе антиоксидантной активности PHOTOCHEM

Исследование физико-химических свойств поверхности нанообъектов и наноструктур с помощью зондового микроскопа Solver P47H
19 000.00 ₽

Исследование физико-химических свойств поверхности нанообъектов и наноструктур с помощью современных методов зондовой микроскопии. Точность измерения перемещения (система сканирования) по вертикали 0,1 нм, в латеральном направлении – 1 нм.

Возможна работа в режиме АСМ и СТМ.

Возможность работы в контактном, прерывисто-контактном и бесконтактном режиме.

Производитель: ЗАО “НТ-МДТ”, Россия

Основные технические характеристики

Диффузионная длина (LD) 10 ÷ 2000 мкм при LD < t

Концентрация металла (Fe) 10⁹ ÷ 10¹³ см⁻³

Погрешность измерений: 15 ÷ 30 >#/p###

Исследование физико-химических свойств поверхности нанообъектов и наноструктур, проведение АСМ и СТМ анализа образцов в жидкостях на сканирующей зондовой лаборатории NTEGRA AURA
19 000.00 ₽
Модульная структура позволяет проводить исследования образцов в жидкостях. Возможность работы в контактном, прерывисто-контактном и бесконтактном режиме....
Анализ химического строения твердых и жидких тел, механических напряжений в полупроводниках, характеризация углеродных нанотрубокотраслях промышленности, при исследовании полимеров на рамановском спектрометре MICRO-S-RAMAN
19 000.00 ₽
Анализ химического строения твердых и жидких тел, механических напряжений в полупроводниках, характеризация углеродных нанотрубок....
Количественный CHNOS-элементный анализ твердых и жидких органических соединений
19 000.00 ₽

Количественный CHNOS-элементный анализ твердых и жидких органических соединений

Лабораторный анализ концентрации ртути в твердых веществах
19 000.00 ₽

Лабораторный анализ концентрации ртути в твердых веществах

Разделение смесей методом препаративной высокоэффективной жидкостной хроматографии с помощью препаративной хроматографической системы LC-20AP
19 000.00 ₽
Описание лабораторной услуги: Разделение смесей методом препаративной высокоэффективной жидкостной хроматографии с помощью препаративной...
Измерения линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведение локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком на микроскопе JIB-4500
20 000.00 ₽

Микроскоп электронно-ионный растровый JIB-4500 предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком.

Предназначен для управляемого локального травления сфокусированным ионным пучком проводящих и непроводящих объектов с заданным рисунком. В совокупности с микроманипулятором  IB-32010FPUS идеально подходит для оперативной подготовки образцов из выбранной области для исследования в ПЭМ.

Исследование кристаллической структуры твердотельных материалов, определение качественного и количественного фазового состава и структуры твердых тел, Рентгеноструктурный анализ на дифрактометре D8 DISCOVER
20 000.00 ₽

Исследование кристаллической структуры твердотельных материалов, определение качественного и количественного фазового состава и структуры твердых тел, Рентгеноструктурный анализ на дифрактометре D8 DISCOVER

Аренда Просвечивающего (сканирующего) электронного микроскопа Titan Themis Z (с оператором ЦКП) за час
20 000.00 ₽

Аренда Просвечивающего (сканирующего) электронного микроскопа Titan Themis Z (с оператором ЦКП) за час

Просвечивающий (сканирующий) электронный микроскоп Titan Themis Z позволяет изучать тонкую структуру образцов. Микроскоп Titan Themis Z оснащен пробкорректором для коррекции сферических аберраций, что существенно улучшает разрешающую способность микроскопа. Микроскоп оснащен приставками для проведения элементного анализа с использованием методик энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (Super-X EDX детектор) и спектроскопии характеристических потерь энергии электронов (Quantum 965). Методики, используемые в электронной микроскопии, такие как HRTEM, HRSTEM, EDX, EELS, Mono-STEM-EELS, STEM-EELS, HAADF, ABF и др. позволяют получить полное представление о структуре, наличии дефектов в кристаллической структуре, фазовом и химическом составе и др.

Год, фирма-изготовитель, страна-изготовитель: 2017, TFS (ThermoFisherScientific), Нидерланды

titan

Технические характеристики:
Разрешающая способность в просвечивающем режиме 120 пм;
Разрешающая способность в сканирующем режиме с пробкорректором 60 пм;
Разрешающая способность монохроматора 0,15 эВ;
Разрешающая способность при 80 кВ: 100 пм;
Высокостабильная сверхяркая электронная пушка Шоттки с возможностью работы на ускоряющих напряжениях: 80 кВ, 120 кВ, 200 кВ, 300 кВ;
Детектор Super-X EDX для энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (EDX) (≤ 136 эВ для линии Mn-Kα и ≤ 140 эВ для Mn-Kα);
Детектор Quantum 965 для спектроскопии энергетических потерь электронов;
Полный автоматический контроль.


Изучение морфологии и поверхности образца на сканирующем электронном микроскопе Quattro с низким вакуумом и детектором обратно рассеянных электронов
20 000.00 ₽

Изучение морфологии, микроструктуры, размера частиц, толщины пленок, гетероструктур их элементного и фазового составов, кристаллографической ориентировки зерен

Тестирование хрупкости пластмассы ударом при низкой температуре
20 000.00 ₽

Тестирование хрупкости пластмассы ударом при низкой температуре

Термоциклирование от -60 до +90С в течение суток
20 000.00 ₽

Термоциклирование от -60  до +90С в течение суток

Тестирование истираемости по Таберу
20 000.00 ₽

тестирование истираемости, истираемость по Таберу, испытание на истираемость

Тестирование на стойкость к горению, испытания материалов на воспламеняемость
20 000.00 ₽

Тестирование на стойкость к горению, испытания материалов на воспламеняемость

Измерение кислородного индекса, определение индекса максимального содержания кислорода
20 000.00 ₽

Измерение кислородного индекса, определение индекса максимального содержания кислорода

Измерение газопроницаемости пленок и листов
20 000.00 ₽

Измерение газопроницаемости

Измерение температуры стеклования пластмасс по ГОСТ Р 56753
20 000.00 ₽

Измерение температуры стеклования пластмасс по ГОСТ Р 56753 

Измерение температуры размягчения пластмасс, термопластов по ВИКА
20 000.00 ₽

Измерение температуры размягчения пластмасс, термопластов по ВИКА

Анализ температуры изгиба под нагрузкой пластмасс, термопластов
20 000.00 ₽

Измерение температуры размягчения пластмасс, термопластов по ВИКА

Определение коэффициента линейного теплового расширения пластмасс посредством термомеханического анализа
20 000.00 ₽

Определение коэффициента линейного теплового расширения пластмасс посредством термомеханического анализа

Исследование пластмассы измерение модуля упругости, модуля потерь, тангенса угла потерь при нагревании
20 000.00 ₽

Исследование пластмассы измерение модуля упругости, модуля потерь, тангенса угла потерь при нагревании

Количественное определение галогенов в органических соединениях
20 000.00 ₽

Количественное определение галогенов в органических соединениях

Определение элементного состава микроучастка поверхности на растровом электронном микроскопе с помощью приставок для волнодисперсионного или энергодисперсионного ренгенофлуоресцентного анализа
20 000.00 ₽

Определение элементного состава микроучастка поверхности на растровом электронном микроскопе с помощью приставок для волнодисперсионного или энергодисперсионного ренгенофлуоресцентного анализа

Определение количественного соотношения кристаллических фаз и степени кристалличности вещества посредством рентгеноструктурного анализа
20 000.00 ₽

Определение количественного соотношения кристаллических фаз и степени кристалличности вещества посредством рентгеноструктурного анализа

Определение цвета образца методом спектроскопии диффузного отражения с помощью спектрофотометра Specord 250Plus
20 000.00 ₽

Определение цвета образца методом спектроскопии диффузного отражения с помощью спектрофотометра Specord 250Plus

Определение общего органического углерода с помощью элементного анализатора MultiEA-5000 (5 комплектов образцов)
20 000.00 ₽

Определение общего органического углерода с помощью элементного анализатора MultiEA-5000 (5 комплектов образцов)

Качественный анализ состава образца методом газовой хромато-масс-спектрометрии высокого разрешения с использованием библиотек масс-спектров
20 000.00 ₽

Качественный анализ состава образца методом газовой хромато-масс-спектрометрии высокого разрешения с использованием библиотек масс-спектров

Физико-химический анализ почв
20 000.00 ₽

Физико-химический анализ почв

Определение теплоемкости образца в зависимости от температуры методом дифференциальной сканирующей калориметрии
20 600.00 ₽

Определение теплоемкости образца в зависимости от температуры методом дифференциальной сканирующей калориметрии

​Сверхкритические флюидные технологии: Проведение сверхкритической флюидной экстракции образца
21 800.00 ₽

Сверхкритические флюидные технологии: Проведение сверхкритической флюидной экстракции образца

Определение квантового выхода люминесценции жидкого образца
22 000.00 ₽

Определение квантового выхода люминесценции жидкого образца

Определение квантового выхода люминесценции твердого образца
22 000.00 ₽

Определение квантового выхода люминесценции твердого образца

Количественный анализ состава образца методом газовой хромато-масс-спектрометрии высокого разрешения с использованием библиотек масс-спектров
22 000.00 ₽

Количественный анализ состава образца методом газовой хромато-масс-спектрометрии высокого разрешения с использованием библиотек масс-спектров

Протеомный анализ белкового препарата включающий: гидролиз белка трипсином, обессоливание образца ZipTip, хромато-масс-спектрометрический анализ в 3-х повторностях (градиент до 120 мин), идентификация белков биоинформационным анализом
24 000.00 ₽

Протеомный анализ белкового препарата включающий: гидролиз белка трипсином, обессоливание образца ZipTip, хромато-масс-спектрометрический анализ в 3-х повторностях (градиент до 120 мин), идентификация белков биоинформационным анализом. (TIMS-TOF-PRO, Ultimate 3000nano UPLC)

Исследование элементного состава образца с картированием по 3 областям на сканирующем электронном микроскопе Quattro с возможностью работы в низком вакууме
24 000.00 ₽
Исследование элементного состава образца с картированием по 3 областям на сканирующем электронном микроскопе Quattro  с возможностью работы в низком...
Анализ морфологии частиц на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
24 000.00 ₽

Анализ морфологии частиц на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

Определение гидросильных групп образца методом ЯМР спектрометрии на ядрах Р. с предварительным фосфитилированием
24 000.00 ₽

Определение гидросильных групп образца методом ЯМР спектрометрии на ядрах Р. с предварительным фосфитилированием

Количественный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии
24 000.00 ₽

Количественный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии

Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров
24 000.00 ₽

Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров

 Назад
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
Вперед 
    Отменить