Исследование элементного состава образца, включая легкие элементы, с использованием спектроскопии энергетических потерь электронов (EELS) (получение спектров в 5 точках) на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S
Исследование элементного состава образца, включая легкие элементы, с использованием спектроскопии энергетических потерь электронов (EELS) (получение спектров в 5 точках) на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S