Описание лабораторного исследования и тестирования: Определение степени кристалличности образца методом рентгеновской дифрактометрии
Используемое оборудование Рентгеновский дифрактометр XRD-7000
Лаборатория ориентирована на рентгенофлуоресцентный элементный анализ твердых образцов в диапазоне от кислорода до урана, рентгеноструктурный анализ различных материалов.
Описание выполняемых стандартов
ASTMC1365 - 06(2011) Стандартный метод определения количественного соотношения фаз в портланд-цементе и цементном клинкере с использованием рентгеновской порошковой дифракции.
ASTMD4926 - 06(2011) Стандартный метод определения содержания гаммаглинозема в алюмосиликатных катализаторах с помощью рентгеновской порошковой дифракции.
ASTMD3720 - 90(2011) Стандартный метод определения соотношения анатаза и рутила в пигменте диоксид титана методом рентгеновской дифракции.
ASTMD5380 - 93(2009) Стандартный метод идентификации кристаллических пигментов и наполнителей с использованием
рентгенофазового анализа.
ASTMD934 – 08 Стандартные методики идентификации кристаллических соединений в донных отложениях методом рентгеновской дифракции.
Оборудование:
Рентгеновский дифрактометр XRD-7000
Производитель — Shimadzu (Япония)
Прибор позволяет производить фазовый анализ твердых образцов, изучать структуру и вещественный состав стройматериалов, минералов, фармпрепаратов, сталей и сплавов, бумаги и картона, определять степень кристалличности материалов. Предназначен для анализа порошковых образцов, волокон и тонких пленок.
Оптическая схема гониометра – θ-θ, минимальный шаг сканирования – 0,0002° (2θ) 0,0001° (θ), диапазон сканирования – от -6° до 132°. Рентгеновская трубка – с Cu мишенью, мощность 2 кВт. Установлена система поликапиллярной оптики и приставка для вращения образца. Детектор – сцинтилляционный, с монохроматором. Для идентификации кристаллических решеток имеется база данных ICDD PDF-2 2010 г.
Область применения — химия, геология, строительство, ЦБП, экология, физика, металлургия, нанотехнологии, фармацевтика, медицина. Используется для определения степени кристалличности, возможно определение степени ориентации волокон.