English
Русский
English
(₽)
($)
(₽)
(€)
(£)
Описание
О проекте
Зарегистрировать лабораторию
Лаборатории
Сотрудничество
Контакты
Москва
Мой профиль
Orders
Comparison list
Wish list
Track my order(s)
Track my order(s)
Sign in
Register
E-mail
Password
Forgot your password?
Register for a new account
Sign in
Remember me
Поиск
+7(495)
661-61-09
Mon-Fr 9a.m.-6p.m.
Request call
Cart is empty
Cart is empty
View cart
Checkout
Menu
Каталог услуг
Научные аналитические исследования и тесты
Спектральные исследования и анализы
Хроматографические тесты и исследования
Рентгеноструктурные анализы и тесты
Микроскопические тесты и исследования
Анализ пористости проницаемости
Профилометрия и топографический анализ
View more
→
Микробиологические исследования и анализы
Секвенирование
Цитофлуориметрия
Физико-механические испытания
Химические исследования и анализы
Медицинские анализы и тесты
Обработка материалов
Аренда оборудования
123456
Анализ алкоголя
Анализ воды
Анализ почвы
Анализы пищевых продуктов
Научные исследования
Анализ пластмассы
Измерение толщины
Исследование древесины
Анализ лакокрасочных материалов
Тесты и анализы металла
Химические исследования
Исследование порошков
Стандарты и методики
Каталог лабораторий
Каталог производителей
Каталог оборудования
Скидки
Home
/
Search results
Search results
Products found: 91
Sort Alphabetically: A to Z
Newest Items First
Sort Alphabetically: Z to A
Sort by Price: Low to High
Sort by Price: High to Low
Sort by Popularity
50 Per Page
12 Per Page
24 Per Page
48 Per Page
96 Per Page
Анализ морфологии частиц на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
24 000.00
₽
Quick view
Анализ распределения частиц по размеру в диапазоне 0,1 - 1000 мкм, диспергированных в воде или органическом растворителе
9 000.00
₽
Quick view
Аренда двухлучевого сканирующего электронного микроскопа Helios G4 Plasma FIB Uxe (с оператором ЦКП) за час
16 000.00
₽
Quick view
Аренда Просвечивающего (сканирующего) электронного микроскопа Titan Themis Z (с оператором ЦКП) за час
20 000.00
₽
Quick view
Аренда сканирующего электронного микроскопа Quattro S с возможностью работы в низком вакууме (с оператором ЦКП) за час
9 000.00
₽
Quick view
Визуализация многослойных структур и гетероструктур с атомарным разрешением на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
130 000.00
₽
Quick view
Визуализация наночастиц с использованием электронной томографии на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором
222 000.00
₽
Quick view
Диспергирование, смешение в потоке
12 000.00
₽
Quick view
Изготовление и визуализация кросс секции на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
32 000.00
₽
Quick view
Измерение массовой доли влаги, анализ влажности
4 000.00
₽
Quick view
Измерение содержания различных органических и неорганических веществ в твердых и жидких образцах по спектрам комбинационного рассеяния, а также для химического анализа поверхности твердых образцов на LabRam HR Evolution
2 600.00
₽
Quick view
Измерения линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведение локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком на микроскопе JIB-4500
20 000.00
₽
Quick view
Изучение кристаллографической ориентировки зеренной структуры на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
Contact us for a price
Quick view
Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца по линии на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
60 000.00
₽
Quick view
Изучение морфологии наночастиц в ПЭМ и СПЭМ режимах на просвечивающем электронном микроскопе с пробкорректором Titan Themis Z
60 000.00
₽
Quick view
Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов
30 000.00
₽
Quick view
Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S
14 000.00
₽
Quick view
Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в воздушной среде
5 500.00
₽
Quick view
Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в воздушной среде [CLONE]
14 200.00
₽
Quick view
Исследование образца методом оптической микроскопии на микроскопе высокого разрешения Imager Carl Zeiss
3 500.00
₽
Quick view
Исследование образца методом спектрофотометрии в УФ- и видимой области спектра
3 000.00
₽
Quick view
Исследование образца методом ядерной магнитной релаксации
5 000.00
₽
Quick view
Исследование поверхности, исследование топографии микро- и нанообъектов на сканирующем электронном микроскопе Philips SEM515
9 800.00
₽
Quick view
Исследование термодеструкции образца методом совмещенного спектрального термоанализа
27 000.00
₽
Quick view
Исследование термодеструкции образца методом совмещенного спектрального термоанализа [CLONE]
32 000.00
₽
Quick view
Исследование элементного состава образца на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме Quattro S
14 000.00
₽
Quick view
Исследование элементного состава образца с картированием по 3 областям на сканирующем электронном микроскопе Quattro с возможностью работы в низком вакууме
24 000.00
₽
Quick view
Качественное определение состава образца органических соединений методом газовой хромато-масс-спектрометрии
9 000.00
₽
Quick view
Качественное определение состава образца органических соединений методом газовой хромато-масс-спектрометрии [CLONE]
9 000.00
₽
Quick view
Качественный (полуколичественный) анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии
6 000.00
₽
Quick view
Качественный (полуколичественный) анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии [CLONE]
6 000.00
₽
Quick view
Качественный (полуколичественный) анализ элементного состава образца методом энергодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии на анализаторе EDX-800HS
9 000.00
₽
Quick view
Качественный (полуколичественный) анализ элементного состава образца методом энергодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии на анализаторе EDX-800HS [CLONE]
12 000.00
₽
Quick view
Качественный анализ состава образца (органических соединений) методом высокоэффективной жидкостной хромато-масс-спектрометрии (ионизация электрораспылением)
12 000.00
₽
Quick view
Количественное определение галогенов в органических соединениях
20 000.00
₽
Quick view
Количественное определение металлов в органических соединениях методом атомной абсорбционной спектроскопии (за элемент)
3 900.00
₽
Quick view
Количественное определение металлов в органических соединениях методом атомной эмиссионной спектроскопии с индуктивно связанной плазмой (за образец)
12 000.00
₽
Quick view
Количественный CHNOS-элементный анализ твердых и жидких органических соединений
19 000.00
₽
Quick view
Количественный анализ жидких образцов посредством рентгенофлуоресцентного анализа с полным внешним отражением
11 600.00
₽
Quick view
Количественный анализ жидких образцов посредством рентгенофлуоресцентного анализа с полным внешним отражением [CLONE]
12 000.00
₽
Quick view
Количественный анализ органических соединений методом высокоэффективной жидкостной хроматографии (за одно соединение)
9 000.00
₽
Quick view
Количественный анализ органических соединений методом газовой хроматографии с пламенно-ионизационным детектированием (за одно соединение)
9 000.00
₽
Quick view
Количественный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии
24 000.00
₽
Quick view
Количественный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии [CLONE]
24 000.00
₽
Quick view
Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров
29 600.00
₽
Quick view
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур на SEM микроскопе S-4800
18 000.00
₽
Quick view
Лабораторное исследование, получение нано- и микро-изображений, спектральный точечный тест на электронном сканирующем микроскопе JSM-6490LV
5 200.00
₽
Quick view
Лабораторный анализ на инфракрасном спектрометре ИК-спектроскопия
12 000.00
₽
Quick view
Определение дзета-потенциала частиц методом лазерного динамического светорассеивания
7 000.00
₽
Quick view
Определение концентрации одного элемента в жидкой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой
34 500.00
₽
Quick view
Prev
1
2
Next