Русский
Русский
English
(£)
($)
(₽)
(€)
(£)
Описание
Сотрудничество
Зарегистрировать лабораторию
Блог
Доставка
Контакты
Москва
Мой профиль
Заказы
Список сравнения
Отложенные товары
Отслеживание заказа
Отслеживание заказа
Войти
Регистрация
E-mail
Пароль
Забыли пароль?
Создать учетную запись
Войти
Запомнить
Поиск
+7(495)
661-61-09
Пн-Пт: 9:00-18:00
Заказать обратный звонок
Корзина пуста
Корзина пуста
Корзина
Оформить заказ
Меню
Каталог тестов
Научные аналитические исследования и тесты
Спектральные исследования и анализы
Хроматографические тесты и исследования
Рентгеноструктурные анализы и тесты
Микроскопические тесты и исследования
Анализ пористости проницаемости
Профилометрия и топографический анализ
Больше
→
Микробиологические исследования и анализы
Секвенирование
Цитофлуорометрия
Физико-механические испытания
Физико-химические исследования и анализы
Медицинские анализы и тесты
Обработка материалов
Аренда оборудования
Типы анализов
Анализ алкоголя
Анализ воды
Анализ почвы
Анализы пищевых продуктов
Научные исследования
Анализ пластмасс и полимеров
Измерение толщины
Исследование древесины
Анализ лакокрасочных материалов
Тесты и анализы металла
Химические исследования
Исследование порошков
Стандарты и методики
Каталог лабораторий
Каталог производителей
Каталог оборудования
Заявка
Главная
/
Результаты поиска
Результаты поиска
Найдено товаров: 91
Сортировать по алфавиту: от Я до А
Сортировать по времени: новинки выше
Сортировать по алфавиту: от А до Я
Сортировать по цене: дешевые выше
Сортировать по цене: дорогие выше
Сортировать по популярности: по убыванию
48 На страницу
12 На страницу
24 На страницу
50 На страницу
96 На страницу
Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
£
613.41
Просмотр
Элементный анализ микрообъектов с использованием метода сканирующей электронной микроскопии
£
157.80
Просмотр
Центрифугирование
£
59.36
Просмотр
Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 2 категории сложности
£
1,978.73
Просмотр
Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 1 категории сложности
£
672.77
Просмотр
Регистрация ЯМР спектра фтора 19F на спектрометре Agilent
£
118.72
Просмотр
Регистрация ЯМР спектра фосфора 31P на спектрометре Agilent
£
118.72
Просмотр
Регистрация ЯМР спектра углерода на спектрометре Agilent
£
118.72
Просмотр
Регистрация ЯМР спектра кремния 29 Si на спектрометре Agilent
£
118.72
Просмотр
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent
£
118.72
Просмотр
Регистрация ЯМР спектра водорода 2H на спектрометре Agilent
£
118.72
Просмотр
Регистрация ЯМР спектра азота 15N на спектрометре Agilent
£
118.72
Просмотр
Регистрация одномерного ЯМР спектра при переменной температуре
£
474.90
Просмотр
Регистрация и расшифровка рентгеноструктурных дифрактограмм кристаллических веществ
£
148.41
Просмотр
Регистрация и анализ масс-спектра ионизации электрораспылением образца
£
89.04
Просмотр
Регистрация и анализ ИК спектра твердого образца в вазелиновом масле в диапазоне 3000 - 600 см'1
£
59.36
Просмотр
Регистрация и анализ ИК спектра жидкости в диапазоне 3000 - 600 см'1
£
29.68
Просмотр
Регистрация 13C ЯМР-спектра твердого образца
£
257.24
Просмотр
Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
£
336.38
Просмотр
Пробоподготовка методом лиофильного высушивания
£
69.26
Просмотр
Приготовление тонких срезов образцов для исследования методом электронной микроскопии
£
29.68
Просмотр
Получение ЯМР спектров на ядрах F и Р (твердый образец)
£
257.24
Просмотр
Получение ЯМР спектров на ядрах F и Р (жидкий образец)
£
79.15
Просмотр
Получение снимка поверхности на SEM растровом электронном микроскопе
£
89.04
Просмотр
Получение набора двумерных ЯМР-спектров для растворимого образца COSY, TOCSY, NOESY, HSQC, НМВС
£
791.49
Просмотр
Получение изображения поверхности образца методом сканирующей электронной микроскопии
£
106.85
Просмотр
Получение 1H ЯМР-спектра образца
£
69.26
Просмотр
Получение 13C ЯМР-спектра хорошо растворимого в растворителях для ЯМР образца
£
69.26
Просмотр
Определение элементного состава микроучастка поверхности на растровом электронном микроскопе с помощью приставок для волнодисперсионного или энергодисперсионного ренгенофлуоресцентного анализа
£
197.87
Просмотр
Определение удельной поверхности, общей пористости, распределения пор по размерам
£
178.09
Просмотр
Определение точного значения массы иона с помощью матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации
£
178.09
Просмотр
Определение степени кристалличности образца методом рентгеновской дифрактометрии
£
108.83
Просмотр
Определение плотности, объемной массы методом гидростатического взвешивания
£
49.47
Просмотр
Определение концентрации одного элемента в твердой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой
£
351.23
Просмотр
Определение концентрации одного элемента в жидкой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой
£
341.33
Просмотр
Определение количественного соотношения кристаллических фаз и степени кристалличности вещества посредством рентгеноструктурного анализа
£
197.87
Просмотр
Определение дзета-потенциала частиц методом лазерного динамического светорассеивания, анализ размеров наночастиц
£
69.26
Просмотр
Определение гидросильных групп образца методом ЯМР спектрометрии на ядрах Р. с предварительным фосфитилированием
£
237.45
Просмотр
Масс-спектральный анализ матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации образца в режиме фрагментации
£
267.13
Просмотр
Масс-спектральный анализ матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации образца в линейном режиме
£
178.09
Просмотр
Лабораторный анализ на инфракрасном спектрометре ИК-спектроскопия
£
118.72
Просмотр
Лабораторное исследование, получение нано- и микро-изображений, спектральный точечный тест на электронном сканирующем микроскопе JSM-6490LV
£
51.45
Просмотр
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур на SEM микроскопе S-4800
£
178.09
Просмотр
Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров
£
237.45
Просмотр
Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров
£
292.85
Просмотр
Количественный анализ элементного состава образца методом энергодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии на анализаторе EDX-800HS
£
118.72
Просмотр
Количественный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии
£
237.45
Просмотр
Количественный анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии
£
59.36
Просмотр
Назад
1
2
Вперед