Москва

Поиск

+7(495)661-61-09Пн-Пт: 9:00-18:00
Заказать обратный звонок

Результаты поискаНайдено товаров: 91

Сортировать по алфавиту: от А до Я
50 На страницу
Лабораторный анализ на инфракрасном спектрометре ИК-спектроскопия
£118.72

Лабораторный анализ на инфракрасном спектрометре ИК-спектроскопия  

+ −
Купить в один клик
Масс-спектральный анализ матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации образца в линейном режиме
£178.09

Масс-спектральный анализ матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации образца в линейном режиме

+ −
Купить в один клик
Масс-спектральный анализ матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации образца в режиме фрагментации
£267.13

Масс-спектральный анализ матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации образца в режиме фрагментации

+ −
Купить в один клик
Определение гидросильных групп образца методом ЯМР спектрометрии на ядрах Р. с предварительным фосфитилированием
£237.45

Определение гидросильных групп образца методом ЯМР спектрометрии на ядрах Р. с предварительным фосфитилированием

+ −
Купить в один клик
Определение дзета-потенциала частиц методом лазерного динамического светорассеивания, анализ размеров наночастиц
£69.26

Определение дзета-потенциала частиц методом лазерного динамического светорассеивания

+ −
Купить в один клик
Определение количественного соотношения кристаллических фаз и степени кристалличности вещества посредством рентгеноструктурного анализа
£197.87

Определение количественного соотношения кристаллических фаз и степени кристалличности вещества посредством рентгеноструктурного анализа

+ −
Купить в один клик
Определение концентрации одного элемента в жидкой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой
£341.33

Определение концентрации одного элемента в жидкой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой

+ −
Купить в один клик
Определение концентрации одного элемента в твердой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой
£351.23

Определение концентрации одного элемента в твердой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой

+ −
Купить в один клик
Определение плотности, объемной массы методом гидростатического взвешивания
£49.47

Определение плотности, объемной массы методом гидростатического взвешивания

+ −
Купить в один клик
Определение степени кристалличности образца методом рентгеновской дифрактометрии
£108.83

Определение степени кристалличности образца методом рентгеновской дифрактометрии

+ −
Купить в один клик
Определение точного значения массы иона с помощью матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации
£178.09

Определение точного значения массы иона с помощью матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации

+ −
Купить в один клик
Определение удельной поверхности, общей пористости, распределения пор по размерам
£178.09

Определение удельной поверхности, общей пористости, распределения пор по размерам

+ −
Купить в один клик
Определение элементного состава микроучастка поверхности на растровом электронном микроскопе с помощью приставок для волнодисперсионного или энергодисперсионного ренгенофлуоресцентного анализа
£197.87

Определение элементного состава микроучастка поверхности на растровом электронном микроскопе с помощью приставок для волнодисперсионного или энергодисперсионного ренгенофлуоресцентного анализа

+ −
Купить в один клик
Получение 13C ЯМР-спектра хорошо растворимого в растворителях для ЯМР образца
£69.26

Получение 13C ЯМР-спектра хорошо растворимого в растворителях для ЯМР образца

+ −
Купить в один клик
Получение 1H ЯМР-спектра образца
£69.26

Получение 'Н ЯМР-спектра образца

+ −
Купить в один клик
Получение изображения поверхности образца методом сканирующей электронной микроскопии
£106.85
Описание лабораторного тестирования: Получение изображения поверхности образца методом сканирующей электронной микроскопии Используемое...
+ −
Купить в один клик
Получение набора двумерных ЯМР-спектров для растворимого образца COSY, TOCSY, NOESY, HSQC, НМВС
£791.49

Получение набора двумерных ЯМР-спектров для растворимого образца COSY, TOCSY, NOESY, HSQC, НМВС

+ −
Купить в один клик
Получение снимка поверхности на SEM растровом электронном микроскопе
£89.04

Получение снимка поверхности на растровом электронном микроскопе

+ −
Купить в один клик
Получение ЯМР спектров на ядрах F и Р (жидкий образец)
£79.15

Получение ЯМР спектров на ядрах F и Р (жидкий образец)

+ −
Купить в один клик
Получение ЯМР спектров на ядрах F и Р (твердый образец)
£257.24

Получение ЯМР спектров на ядрах F и Р (твердый образец)

+ −
Купить в один клик
Приготовление тонких срезов образцов для исследования методом электронной микроскопии
£29.68

Приготовление тонких срезов образцов для исследования методом электронной микроскопии

+ −
Купить в один клик
Пробоподготовка методом лиофильного высушивания
£69.26

Пробоподготовка методом лиофильного высушивания 

+ −
Купить в один клик
Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
£336.38

Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

+ −
Купить в один клик
Регистрация 13C ЯМР-спектра твердого образца
£257.24

Регистрация 13С ЯМР-спектра твердого образца

+ −
Купить в один клик
Регистрация и анализ ИК спектра жидкости в диапазоне 3000 - 600 см'1
£29.68

Регистрация и анализ ИК спектра жидкости в диапазоне 3000 - 600 см'1

+ −
Купить в один клик
Регистрация и анализ ИК спектра твердого образца в вазелиновом масле в диапазоне 3000 - 600 см'1
£59.36

регистрация ИК спектра, анализ ИК спектра,  ИК анализ жидкости, ИК исследование, инфракрасный анализ, инфракрасный анализ жидкости

+ −
Купить в один клик
Регистрация и анализ масс-спектра ионизации электрораспылением образца
£89.04

Регистрация и анализ масс-спектра ионизации электрораспылением образца

+ −
Купить в один клик
Регистрация и расшифровка рентгеноструктурных дифрактограмм кристаллических веществ
£148.41

Регистрация и расшифровка рентгеноструктурных дифрактограмм кристаллических веществ

+ −
Купить в один клик
Регистрация одномерного ЯМР спектра при переменной температуре
£474.90

Регистрация одномерного ЯМР спектра при переменной температуре

+ −
Купить в один клик
Регистрация ЯМР спектра азота 15N на спектрометре Agilent
£118.72

Регистрация ЯМР спектра фосфора на спектрометре Agilent

+ −
Купить в один клик
Регистрация ЯМР спектра водорода 2H на спектрометре Agilent
£118.72

Регистрация ЯМР спектра фосфора на спектрометре Agilent

+ −
Купить в один клик
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent
£118.72

Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent

+ −
Купить в один клик
Регистрация ЯМР спектра кремния 29 Si на спектрометре Agilent
£118.72

Регистрация ЯМР спектра кремния 29 Si на спектрометре Agilent 

+ −
Купить в один клик
Регистрация ЯМР спектра углерода на спектрометре Agilent
£118.72

Регистрация ЯМР спектра углерода на спектрометре Agilent

+ −
Купить в один клик
Регистрация ЯМР спектра фосфора 31P на спектрометре Agilent
£118.72

Регистрация ЯМР спектра фосфора на спектрометре Agilent

+ −
Купить в один клик
Регистрация ЯМР спектра фтора 19F на спектрометре Agilent
£118.72

Регистрация ЯМР спектра фтора 19F на спектрометре Agilent

+ −
Купить в один клик
Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 1 категории сложности
£672.77

Регистрация,  расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 1 категории сложности

+ −
Купить в один клик
Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 2 категории сложности
£1,978.73

Регистрация,  расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 2 категории сложности

+ −
Купить в один клик
Центрифугирование
£59.36

Центрифугирование 

+ −
Купить в один клик
Элементный анализ микрообъектов с использованием метода сканирующей электронной микроскопии
£157.80

Элементный анализ микрообъектов с использованием метода сканирующей электронной микроскопии

+ −
Купить в один клик
Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
£613.41

Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM

+ −
Купить в один клик
 Назад
1 2
Вперед