Результаты поиска

Визуализация наночастиц с использованием электронной томографии на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором

£2,196.40

Просвечивающий (сканирующий) электронный микроскоп Titan Themis Z, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Визуализация наночастиц с использованием электронной томографии на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 2 категории сложности

£1,978.73

ЯМР-спектрометр Agilent DD2 400 NB, Научные исследования, Agilent Technologies

Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 2 категории сложности

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Визуализация многослойных структур и гетероструктур с атомарным разрешением на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z

£1,286.18

Просвечивающий (сканирующий) электронный микроскоп Titan Themis Z, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Визуализация многослойных структур и гетероструктур с атомарным разрешением на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Получение набора двумерных ЯМР-спектров для растворимого образца COSY, TOCSY, NOESY, HSQC, НМВС

£791.49

Спектрометр ЯМР Avance III 600, Научные исследования, Bruker

Получение набора двумерных ЯМР-спектров для растворимого образца COSY, TOCSY, NOESY, HSQC, НМВС

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 1 категории сложности

£672.77

ЯМР-спектрометр Agilent DD2 400 NB, Научные исследования, Agilent Technologies

Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 1 категории сложности

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM

£613.41

Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца по линии на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM

£593.62

Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца по линии на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM

Кол-во:

+ −