Москва

Поиск

+7(495)661-61-09Пн-Пт: 9:00-18:00
Заказать обратный звонок

Результаты поискаНайдено товаров: 91

Сортировать по алфавиту: от Я до А
50 На страницу
Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
$819.94
+ −
Элементный анализ микрообъектов с использованием метода сканирующей электронной микроскопии
$210.94
+ −
Центрифугирование
$79.35
+ −
Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 2 категории сложности
$2,644.97
+ −
Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 1 категории сложности
$899.29
+ −
Регистрация ЯМР спектра фтора 19F на спектрометре Agilent
$158.70
+ −
Регистрация ЯМР спектра фосфора 31P на спектрометре Agilent
$158.70
+ −
Регистрация ЯМР спектра углерода на спектрометре Agilent
$158.70
+ −
Регистрация ЯМР спектра кремния 29 Si на спектрометре Agilent
$158.70
+ −
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent
$158.70
+ −
Регистрация ЯМР спектра водорода 2H на спектрометре Agilent
$158.70
+ −
Регистрация ЯМР спектра азота 15N на спектрометре Agilent
$158.70
+ −
Регистрация одномерного ЯМР спектра при переменной температуре
$634.79
+ −
Регистрация и расшифровка рентгеноструктурных дифрактограмм кристаллических веществ
$198.37
+ −
Регистрация и анализ масс-спектра ионизации электрораспылением образца
$119.02
+ −
Регистрация и анализ ИК спектра твердого образца в вазелиновом масле в диапазоне 3000 - 600 см'1
$79.35
+ −
Регистрация и анализ ИК спектра жидкости в диапазоне 3000 - 600 см'1
$39.67
+ −
Регистрация 13C ЯМР-спектра твердого образца
$343.85
+ −
Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
$449.65
+ −
Пробоподготовка методом лиофильного высушивания
$92.57
+ −
Приготовление тонких срезов образцов для исследования методом электронной микроскопии
$39.67
+ −
Получение ЯМР спектров на ядрах F и Р (твердый образец)
$343.85
+ −
Получение ЯМР спектров на ядрах F и Р (жидкий образец)
$105.80
+ −
Получение снимка поверхности на SEM растровом электронном микроскопе
$119.02
+ −
Получение набора двумерных ЯМР-спектров для растворимого образца COSY, TOCSY, NOESY, HSQC, НМВС
$1,057.99
+ −
Получение изображения поверхности образца методом сканирующей электронной микроскопии
$142.83
+ −
Получение 1H ЯМР-спектра образца
$92.57
+ −
Получение 13C ЯМР-спектра хорошо растворимого в растворителях для ЯМР образца
$92.57
+ −
Определение элементного состава микроучастка поверхности на растровом электронном микроскопе с помощью приставок для волнодисперсионного или энергодисперсионного ренгенофлуоресцентного анализа
$264.50
+ −
Определение удельной поверхности, общей пористости, распределения пор по размерам
$238.05
+ −
Определение точного значения массы иона с помощью матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации
$238.05
+ −
Определение степени кристалличности образца методом рентгеновской дифрактометрии
$145.47
+ −
Определение плотности, объемной массы методом гидростатического взвешивания
$66.12
+ −
Определение концентрации одного элемента в твердой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой
$469.48
+ −
Определение концентрации одного элемента в жидкой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой
$456.26
+ −
Определение количественного соотношения кристаллических фаз и степени кристалличности вещества посредством рентгеноструктурного анализа
$264.50
+ −
Определение дзета-потенциала частиц методом лазерного динамического светорассеивания, анализ размеров наночастиц
$92.57
+ −
Определение гидросильных групп образца методом ЯМР спектрометрии на ядрах Р. с предварительным фосфитилированием
$317.40
+ −
Масс-спектральный анализ матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации образца в режиме фрагментации
$357.07
+ −
Масс-спектральный анализ матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации образца в линейном режиме
$238.05
+ −
Лабораторный анализ на инфракрасном спектрометре ИК-спектроскопия
$158.70
+ −
Лабораторное исследование, получение нано- и микро-изображений, спектральный точечный тест на электронном сканирующем микроскопе JSM-6490LV
$68.77
+ −
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур на SEM микроскопе S-4800
$238.05
+ −
Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров
$317.40
+ −
Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров
$391.46
+ −
Количественный анализ элементного состава образца методом энергодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии на анализаторе EDX-800HS
$158.70
+ −
Количественный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии
$317.40
+ −
Количественный анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии
$79.35
+ −
Количественный анализ твердых образцов посредством рентгенофлуоресцентного анализа с полным внешним отражением
$158.70
+ −
Количественный анализ органических соединений методом газовой хроматографии с пламенно-ионизационным детектированием (за одно соединение)
$119.02
+ −
 Назад
1 2
Вперед