English
Русский
English
(₽)
($)
(₽)
(€)
(£)
Описание
О проекте
Зарегистрировать лабораторию
Лаборатории
Сотрудничество
Контакты
Москва
Мой профиль
Orders
Comparison list
Wish list
Track my order(s)
Track my order(s)
Sign in
Register
E-mail
Password
Forgot your password?
Register for a new account
Sign in
Remember me
Поиск
+7(495)
661-61-09
Mon-Fr 9a.m.-6p.m.
Request call
Cart is empty
Cart is empty
View cart
Checkout
Menu
Каталог услуг
Научные аналитические исследования и тесты
Спектральные исследования и анализы
Хроматографические тесты и исследования
Рентгеноструктурные анализы и тесты
Микроскопические тесты и исследования
Анализ пористости проницаемости
Профилометрия и топографический анализ
View more
→
Микробиологические исследования и анализы
Секвенирование
Цитофлуориметрия
Физико-механические испытания
Химические исследования и анализы
Медицинские анализы и тесты
Обработка материалов
Аренда оборудования
123456
Анализ алкоголя
Анализ воды
Анализ почвы
Анализы пищевых продуктов
Научные исследования
Анализ пластмассы
Измерение толщины
Исследование древесины
Анализ лакокрасочных материалов
Тесты и анализы металла
Химические исследования
Исследование порошков
Стандарты и методики
Каталог лабораторий
Каталог производителей
Каталог оборудования
Скидки
Home
/
Search results
Search results
Products found: 91
Sort Alphabetically: A to Z
Newest Items First
Sort Alphabetically: Z to A
Sort by Price: Low to High
Sort by Price: High to Low
Sort by Popularity
24 Per Page
12 Per Page
48 Per Page
50 Per Page
96 Per Page
Анализ морфологии частиц на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
CODE:
24 000.00
₽
+
−
Add to cart
Анализ распределения частиц по размеру в диапазоне 0,1 - 1000 мкм, диспергированных в воде или органическом растворителе
CODE:
9 000.00
₽
+
−
Add to cart
Аренда двухлучевого сканирующего электронного микроскопа Helios G4 Plasma FIB Uxe (с оператором ЦКП) за час
CODE:
16 000.00
₽
+
−
Add to cart
Аренда Просвечивающего (сканирующего) электронного микроскопа Titan Themis Z (с оператором ЦКП) за час
CODE:
20 000.00
₽
+
−
Add to cart
Аренда сканирующего электронного микроскопа Quattro S с возможностью работы в низком вакууме (с оператором ЦКП) за час
CODE:
9 000.00
₽
+
−
Add to cart
Визуализация многослойных структур и гетероструктур с атомарным разрешением на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
CODE:
130 000.00
₽
+
−
Add to cart
Визуализация наночастиц с использованием электронной томографии на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором
CODE:
222 000.00
₽
+
−
Add to cart
Диспергирование, смешение в потоке
CODE:
12 000.00
₽
+
−
Add to cart
Изготовление и визуализация кросс секции на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
CODE:
32 000.00
₽
+
−
Add to cart
Измерение массовой доли влаги, анализ влажности
CODE:
4 000.00
₽
+
−
Add to cart
Измерение содержания различных органических и неорганических веществ в твердых и жидких образцах по спектрам комбинационного рассеяния, а также для химического анализа поверхности твердых образцов на LabRam HR Evolution
CODE:
2 600.00
₽
+
−
Add to cart
Измерения линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведение локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком на микроскопе JIB-4500
CODE:
20 000.00
₽
+
−
Add to cart
Изучение кристаллографической ориентировки зеренной структуры на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
CODE:
Contact us for a price
Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца по линии на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
CODE:
60 000.00
₽
+
−
Add to cart
Изучение морфологии наночастиц в ПЭМ и СПЭМ режимах на просвечивающем электронном микроскопе с пробкорректором Titan Themis Z
CODE:
60 000.00
₽
+
−
Add to cart
Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов
CODE:
30 000.00
₽
+
−
Add to cart
Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S
CODE:
14 000.00
₽
+
−
Add to cart
Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в воздушной среде
CODE:
5 500.00
₽
+
−
Add to cart
Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в воздушной среде [CLONE]
CODE:
14 200.00
₽
+
−
Add to cart
Исследование образца методом оптической микроскопии на микроскопе высокого разрешения Imager Carl Zeiss
CODE:
3 500.00
₽
+
−
Add to cart
Исследование образца методом спектрофотометрии в УФ- и видимой области спектра
CODE:
3 000.00
₽
+
−
Add to cart
Исследование образца методом ядерной магнитной релаксации
CODE:
5 000.00
₽
+
−
Add to cart
Исследование поверхности, исследование топографии микро- и нанообъектов на сканирующем электронном микроскопе Philips SEM515
CODE:
9 800.00
₽
+
−
Add to cart
Исследование термодеструкции образца методом совмещенного спектрального термоанализа
CODE:
27 000.00
₽
+
−
Add to cart
Prev
1
2
3
4
Next