Результаты поиска

Визуализация наночастиц с использованием электронной томографии на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором

222 000.00 ₽

Просвечивающий (сканирующий) электронный микроскоп Titan Themis Z, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Визуализация наночастиц с использованием электронной томографии на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 2 категории сложности

200 000.00 ₽

ЯМР-спектрометр Agilent DD2 400 NB, Научные исследования, Agilent Technologies

Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 2 категории сложности

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Визуализация многослойных структур и гетероструктур с атомарным разрешением на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z

130 000.00 ₽

Просвечивающий (сканирующий) электронный микроскоп Titan Themis Z, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Визуализация многослойных структур и гетероструктур с атомарным разрешением на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Получение набора двумерных ЯМР-спектров для растворимого образца COSY, TOCSY, NOESY, HSQC, НМВС

80 000.00 ₽

Спектрометр ЯМР Avance III 600, Научные исследования, Bruker

Получение набора двумерных ЯМР-спектров для растворимого образца COSY, TOCSY, NOESY, HSQC, НМВС

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 1 категории сложности

68 000.00 ₽

ЯМР-спектрометр Agilent DD2 400 NB, Научные исследования, Agilent Technologies

Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 1 категории сложности

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM

62 000.00 ₽

Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца по линии на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM

60 000.00 ₽

Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца по линии на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Изучение морфологии наночастиц в ПЭМ и СПЭМ режимах на просвечивающем электронном микроскопе с пробкорректором Titan Themis Z

60 000.00 ₽

Просвечивающий (сканирующий) электронный микроскоп Titan Themis Z, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Изучение морфологии наночастиц в ПЭМ и СПЭМ режимах на просвечивающем электронном микроскопе с пробкорректором Titan Themis Z

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация одномерного ЯМР спектра при переменной температуре

48 000.00 ₽

ЯМР-спектрометр Agilent DD2 400 NB, Научные исследования, Agilent Technologies

Регистрация одномерного ЯМР спектра при переменной температуре

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Определение концентрации одного элемента в твердой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой

35 500.00 ₽

Масс-спектрометр с индуктивно связанной плазмой Aurora M90 и Aurora Elite, Научные исследования, Bruker

Определение концентрации одного элемента в твердой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Определение концентрации одного элемента в жидкой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой

34 500.00 ₽

Масс-спектрометр с индуктивно связанной плазмой Aurora M90 и Aurora Elite, Научные исследования, Bruker

Определение концентрации одного элемента в жидкой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

34 000.00 ₽

Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Изготовление и визуализация кросс секции на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

32 000.00 ₽

Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Изготовление и визуализация кросс секции на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Исследование термодеструкции образца методом совмещенного термоанализа с идентификацией продуктов разложения

32 000.00 ₽

Синхронный термический анализатор STA 449 F3 (TGA/DSC), Научные исследования, NETZSCH

Исследование термодеструкции образца методом совмещенного термоанализа с идентификацией продуктов разложения

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов

30 000.00 ₽

Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров

29 600.00 ₽

Последовательный рентгенофлуоресцентный волнодисперсионный спектрометр Shimadzu Lab Center XRF-1800, Научные исследования, Shimadzu

Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Масс-спектральный анализ матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации образца в режиме фрагментации

27 000.00 ₽

Времяпролетный тандемный масс-спектрометр высокого разрешения с матрично-ассоциированной лазерной десорбцией-ионизацией Axima (MALDI), Научные исследования, Shimadzu

Масс-спектральный анализ матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации образца в режиме фрагментации

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Исследование термодеструкции образца методом совмещенного спектрального термоанализа

27 000.00 ₽

Синхронный термический анализатор STA 449 F3 (TGA/DSC), Научные исследования, NETZSCH

Исследование термодеструкции образца методом совмещенного спектрального термоанализа

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация 13C ЯМР-спектра твердого образца

26 000.00 ₽

Спектрометр ЯМР Avance III 600, Научные исследования, Bruker

Регистрация 13С ЯМР-спектра твердого образца

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Получение ЯМР спектров на ядрах F и Р (твердый образец)

26 000.00 ₽

Спектрометр ЯМР Avance III 600, Научные исследования, Bruker

Получение ЯМР спектров на ядрах F и Р (твердый образец)

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Исследование элементного состава образца с картированием по 3 областям на сканирующем электронном микроскопе Quattro с возможностью работы в низком вакууме

24 000.00 ₽

Сканирующий электронный микроскоп Quattro S, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Исследование элементного состава образца с картированием по 3 областям на сканирующем электронном микроскопе Quattro с возможностью работы в низком...

Кол-во:

+ −