Русский
Русский
English
(₽)
($)
(₽)
(€)
(£)
Описание
Сотрудничество
Зарегистрировать лабораторию
Блог
Доставка
Контакты
Москва
Мой профиль
Заказы
Список сравнения
Отложенные товары
Отслеживание заказа
Отслеживание заказа
Войти
Регистрация
E-mail
Пароль
Забыли пароль?
Создать учетную запись
Войти
Запомнить
Поиск
+7(495)
661-61-09
Пн-Пт: 9:00-18:00
Заказать обратный звонок
Корзина пуста
Корзина пуста
Корзина
Оформить заказ
Меню
Каталог тестов
Научные аналитические исследования и тесты
Спектральные исследования и анализы
Хроматографические тесты и исследования
Рентгеноструктурные анализы и тесты
Микроскопические тесты и исследования
Анализ пористости проницаемости
Профилометрия и топографический анализ
Больше
→
Микробиологические исследования и анализы
Секвенирование
Цитофлуорометрия
Физико-механические испытания
Физико-химические исследования и анализы
Медицинские анализы и тесты
Обработка материалов
Аренда оборудования
Типы анализов
Анализ алкоголя
Анализ воды
Анализ почвы
Анализы пищевых продуктов
Научные исследования
Анализ пластмасс и полимеров
Измерение толщины
Исследование древесины
Анализ лакокрасочных материалов
Тесты и анализы металла
Химические исследования
Исследование порошков
Стандарты и методики
Каталог лабораторий
Каталог производителей
Каталог оборудования
Заявка
Главная
/
Результаты поиска
Результаты поиска
Найдено товаров: 91
Сортировать по цене: дешевые выше
Сортировать по времени: новинки выше
Сортировать по алфавиту: от А до Я
Сортировать по алфавиту: от Я до А
Сортировать по цене: дорогие выше
Сортировать по популярности: по убыванию
48 На страницу
12 На страницу
24 На страницу
50 На страницу
96 На страницу
Количественный анализ твердых образцов посредством рентгенофлуоресцентного анализа с полным внешним отражением
12 000.00
₽
Просмотр
Количественный анализ элементного состава образца методом энергодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии на анализаторе EDX-800HS
12 000.00
₽
Просмотр
Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S
14 000.00
₽
Просмотр
Исследование элементного состава образца на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме Quattro S
14 000.00
₽
Просмотр
Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в жидкой среде
14 200.00
₽
Просмотр
Регистрация и расшифровка рентгеноструктурных дифрактограмм кристаллических веществ
15 000.00
₽
Просмотр
Элементный анализ микрообъектов с использованием метода сканирующей электронной микроскопии
15 950.00
₽
Просмотр
Аренда двухлучевого сканирующего электронного микроскопа Helios G4 Plasma FIB Uxe (с оператором ЦКП) за час
16 000.00
₽
Просмотр
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур на SEM микроскопе S-4800
18 000.00
₽
Просмотр
Масс-спектральный анализ матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации образца в линейном режиме
18 000.00
₽
Просмотр
Определение точного значения массы иона с помощью матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации
18 000.00
₽
Просмотр
Определение удельной поверхности, общей пористости, распределения пор по размерам
18 000.00
₽
Просмотр
Количественный CHNOS-элементный анализ твердых и жидких органических соединений
19 000.00
₽
Просмотр
Измерения линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведение локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком на микроскопе JIB-4500
20 000.00
₽
Просмотр
Аренда Просвечивающего (сканирующего) электронного микроскопа Titan Themis Z (с оператором ЦКП) за час
20 000.00
₽
Просмотр
Количественное определение галогенов в органических соединениях
20 000.00
₽
Просмотр
Определение элементного состава микроучастка поверхности на растровом электронном микроскопе с помощью приставок для волнодисперсионного или энергодисперсионного ренгенофлуоресцентного анализа
20 000.00
₽
Просмотр
Определение количественного соотношения кристаллических фаз и степени кристалличности вещества посредством рентгеноструктурного анализа
20 000.00
₽
Просмотр
Исследование элементного состава образца с картированием по 3 областям на сканирующем электронном микроскопе Quattro с возможностью работы в низком вакууме
24 000.00
₽
Просмотр
Анализ морфологии частиц на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
24 000.00
₽
Просмотр
Определение гидросильных групп образца методом ЯМР спектрометрии на ядрах Р. с предварительным фосфитилированием
24 000.00
₽
Просмотр
Количественный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии
24 000.00
₽
Просмотр
Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров
24 000.00
₽
Просмотр
Регистрация 13C ЯМР-спектра твердого образца
26 000.00
₽
Просмотр
Получение ЯМР спектров на ядрах F и Р (твердый образец)
26 000.00
₽
Просмотр
Масс-спектральный анализ матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации образца в режиме фрагментации
27 000.00
₽
Просмотр
Исследование термодеструкции образца методом совмещенного спектрального термоанализа
27 000.00
₽
Просмотр
Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров
29 600.00
₽
Просмотр
Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов
30 000.00
₽
Просмотр
Изготовление и визуализация кросс секции на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
32 000.00
₽
Просмотр
Исследование термодеструкции образца методом совмещенного термоанализа с идентификацией продуктов разложения
32 000.00
₽
Просмотр
Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
34 000.00
₽
Просмотр
Определение концентрации одного элемента в жидкой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой
34 500.00
₽
Просмотр
Определение концентрации одного элемента в твердой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой
35 500.00
₽
Просмотр
Регистрация одномерного ЯМР спектра при переменной температуре
48 000.00
₽
Просмотр
Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца по линии на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
60 000.00
₽
Просмотр
Изучение морфологии наночастиц в ПЭМ и СПЭМ режимах на просвечивающем электронном микроскопе с пробкорректором Titan Themis Z
60 000.00
₽
Просмотр
Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
62 000.00
₽
Просмотр
Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 1 категории сложности
68 000.00
₽
Просмотр
Получение набора двумерных ЯМР-спектров для растворимого образца COSY, TOCSY, NOESY, HSQC, НМВС
80 000.00
₽
Просмотр
Визуализация многослойных структур и гетероструктур с атомарным разрешением на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
130 000.00
₽
Просмотр
Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 2 категории сложности
200 000.00
₽
Просмотр
Визуализация наночастиц с использованием электронной томографии на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором
222 000.00
₽
Просмотр
Назад
1
2
Вперед