Определение концентрации одного элемента в жидкой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой
Определение плотности, объемной массы методом гидростатического взвешивания
Определение степени кристалличности образца методом рентгеновской дифрактометрии
Определение удельной поверхности, общей пористости, распределения пор по размерам
Получение 'Н ЯМР-спектра образца
Получение снимка поверхности на растровом электронном микроскопе
Приготовление тонких срезов образцов для исследования методом электронной микроскопии
Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
Регистрация и анализ ИК спектра жидкости в диапазоне 3000 - 600 см'1
Регистрация и анализ масс-спектра ионизации электрораспылением образца
Регистрация и расшифровка рентгеноструктурных дифрактограмм кристаллических веществ
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent
Центрифугирование
Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM