English
Русский
English
(€)
($)
(₽)
(€)
(£)
Описание
О проекте
Зарегистрировать лабораторию
Лаборатории
Сотрудничество
Контакты
Москва
Мой профиль
Orders
Comparison list
Wish list
Track my order(s)
Track my order(s)
Sign in
Register
E-mail
Password
Forgot your password?
Register for a new account
Sign in
Remember me
Поиск
+7(495)
661-61-09
Mon-Fr 9a.m.-6p.m.
Request call
Cart is empty
Cart is empty
View cart
Checkout
Menu
Каталог услуг
Научные аналитические исследования и тесты
Спектральные исследования и анализы
Хроматографические тесты и исследования
Рентгеноструктурные анализы и тесты
Микроскопические тесты и исследования
Анализ пористости проницаемости
Профилометрия и топографический анализ
View more
→
Микробиологические исследования и анализы
Секвенирование
Цитофлуориметрия
Физико-механические испытания
Химические исследования и анализы
Медицинские анализы и тесты
Обработка материалов
Аренда оборудования
123456
Анализ алкоголя
Анализ воды
Анализ почвы
Анализы пищевых продуктов
Научные исследования
Анализ пластмассы
Измерение толщины
Исследование древесины
Анализ лакокрасочных материалов
Тесты и анализы металла
Химические исследования
Исследование порошков
Стандарты и методики
Каталог лабораторий
Каталог производителей
Каталог оборудования
Скидки
Home
/
Search results
Search results
Products found: 91
Sort Alphabetically: Z to A
Newest Items First
Sort Alphabetically: A to Z
Sort by Price: Low to High
Sort by Price: High to Low
Sort by Popularity
96 Per Page
12 Per Page
24 Per Page
48 Per Page
50 Per Page
Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
€
679.04
Quick view
Центрифугирование
€
65.71
Quick view
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE]
€
2,190.46
Quick view
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE]
€
744.75
Quick view
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE]
€
525.71
Quick view
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE]
€
131.43
Quick view
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE]
€
131.43
Quick view
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE]
€
131.43
Quick view
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent [CLONE] [CLONE] [CLONE]
€
131.43
Quick view
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent [CLONE] [CLONE]
€
131.43
Quick view
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent [CLONE]
€
131.43
Quick view
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent
€
131.43
Quick view
Регистрация и расшифровка рентгеноструктурных дифрактограмм кристаллических веществ [CLONE]
€
219.05
Quick view
Регистрация и расшифровка рентгеноструктурных дифрактограмм кристаллических веществ
€
164.28
Quick view
Регистрация и анализ масс-спектра ионизации электрораспылением образца [CLONE] [CLONE] [CLONE]
€
197.14
Quick view
Регистрация и анализ масс-спектра ионизации электрораспылением образца [CLONE] [CLONE]
€
295.71
Quick view
Регистрация и анализ масс-спектра ионизации электрораспылением образца [CLONE]
€
197.14
Quick view
Регистрация и анализ масс-спектра ионизации электрораспылением образца
€
98.57
Quick view
Регистрация и анализ ИК спектра жидкости в диапазоне 3000 - 600 см'1 [CLONE] [CLONE]
€
32.86
Quick view
Регистрация и анализ ИК спектра жидкости в диапазоне 3000 - 600 см'1 [CLONE]
€
65.71
Quick view
Регистрация и анализ ИК спектра жидкости в диапазоне 3000 - 600 см'1
€
32.86
Quick view
Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
€
372.38
Quick view
Пробоподготовка методом лиофильного высушивания
€
76.67
Quick view
Приготовление тонких срезов образцов для исследования методом электронной микроскопии
€
32.86
Quick view
Получение снимка поверхности на растровом электронном микроскопе [CLONE]
€
219.05
Quick view
Получение снимка поверхности на растровом электронном микроскопе [CLONE]
€
98.57
Quick view
Получение снимка поверхности на растровом электронном микроскопе
€
98.57
Quick view
Получение изображения поверхности образца методом сканирующей электронной микроскопии [CLONE]
€
174.69
Quick view
Получение изображения поверхности образца методом сканирующей электронной микроскопии
€
118.28
Quick view
Получение 'Н ЯМР-спектра образца [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE]
€
876.18
Quick view
Получение 'Н ЯМР-спектра образца [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE]
€
262.85
Quick view
Получение 'Н ЯМР-спектра образца [CLONE] [CLONE] [CLONE]
€
284.76
Quick view
Получение 'Н ЯМР-спектра образца [CLONE] [CLONE]
€
284.76
Quick view
Получение 'Н ЯМР-спектра образца [CLONE] [CLONE]
€
87.62
Quick view
Получение 'Н ЯМР-спектра образца [CLONE]
€
76.67
Quick view
Получение 'Н ЯМР-спектра образца
€
76.67
Quick view
Определение удельной поверхности, общей пористости, распределения пор по размерам
€
197.14
Quick view
Определение степени кристалличности образца методом рентгеновской дифрактометрии [CLONE]
€
120.48
Quick view
Определение степени кристалличности образца методом рентгеновской дифрактометрии
€
120.48
Quick view
Определение плотности, объемной массы методом гидростатического взвешивания
€
54.76
Quick view
Определение концентрации одного элемента в жидкой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой [CLONE]
€
388.81
Quick view
Определение концентрации одного элемента в жидкой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой
€
377.85
Quick view
Определение дзета-потенциала частиц методом лазерного динамического светорассеивания
€
76.67
Quick view
Лабораторный анализ на инфракрасном спектрометре ИК-спектроскопия
€
131.43
Quick view
Лабораторное исследование, получение нано- и микро-изображений, спектральный точечный тест на электронном сканирующем микроскопе JSM-6490LV
€
56.95
Quick view
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур на SEM микроскопе S-4800
€
197.14
Quick view
Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров
€
324.19
Quick view
Количественный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии [CLONE]
€
262.85
Quick view
Количественный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии
€
262.85
Quick view
Количественный анализ органических соединений методом газовой хроматографии с пламенно-ионизационным детектированием (за одно соединение)
€
98.57
Quick view
Количественный анализ органических соединений методом высокоэффективной жидкостной хроматографии (за одно соединение)
€
98.57
Quick view
Количественный анализ жидких образцов посредством рентгенофлуоресцентного анализа с полным внешним отражением [CLONE]
€
131.43
Quick view
Количественный анализ жидких образцов посредством рентгенофлуоресцентного анализа с полным внешним отражением
€
127.05
Quick view
Количественный CHNOS-элементный анализ твердых и жидких органических соединений
€
208.09
Quick view
Количественное определение металлов в органических соединениях методом атомной эмиссионной спектроскопии с индуктивно связанной плазмой (за образец)
€
131.43
Quick view
Количественное определение металлов в органических соединениях методом атомной абсорбционной спектроскопии (за элемент)
€
42.71
Quick view
Количественное определение галогенов в органических соединениях
€
219.05
Quick view
Качественный анализ состава образца (органических соединений) методом высокоэффективной жидкостной хромато-масс-спектрометрии (ионизация электрораспылением)
€
131.43
Quick view
Качественный (полуколичественный) анализ элементного состава образца методом энергодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии на анализаторе EDX-800HS [CLONE]
€
131.43
Quick view
Качественный (полуколичественный) анализ элементного состава образца методом энергодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии на анализаторе EDX-800HS
€
98.57
Quick view
Качественный (полуколичественный) анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии [CLONE]
€
65.71
Quick view
Качественный (полуколичественный) анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии
€
65.71
Quick view
Качественное определение состава образца органических соединений методом газовой хромато-масс-спектрометрии [CLONE]
€
98.57
Quick view
Качественное определение состава образца органических соединений методом газовой хромато-масс-спектрометрии
€
98.57
Quick view
Исследование элементного состава образца с картированием по 3 областям на сканирующем электронном микроскопе Quattro с возможностью работы в низком вакууме
€
262.85
Quick view
Исследование элементного состава образца на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме Quattro S
€
153.33
Quick view
Исследование термодеструкции образца методом совмещенного спектрального термоанализа [CLONE]
€
350.47
Quick view
Исследование термодеструкции образца методом совмещенного спектрального термоанализа
€
295.71
Quick view
Исследование поверхности, исследование топографии микро- и нанообъектов на сканирующем электронном микроскопе Philips SEM515
€
107.33
Quick view
Исследование образца методом ядерной магнитной релаксации
€
54.76
Quick view
Исследование образца методом спектрофотометрии в УФ- и видимой области спектра
€
32.86
Quick view
Исследование образца методом оптической микроскопии на микроскопе высокого разрешения Imager Carl Zeiss
€
38.33
Quick view
Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в воздушной среде [CLONE]
€
155.52
Quick view
Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в воздушной среде
€
60.24
Quick view
Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S
€
153.33
Quick view
Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов
€
328.57
Quick view
Изучение морфологии наночастиц в ПЭМ и СПЭМ режимах на просвечивающем электронном микроскопе с пробкорректором Titan Themis Z
€
657.14
Quick view
Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца по линии на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
€
657.14
Quick view
Изучение кристаллографической ориентировки зеренной структуры на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
Contact us for a price
Quick view
Измерения линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведение локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком на микроскопе JIB-4500
€
219.05
Quick view
Измерение содержания различных органических и неорганических веществ в твердых и жидких образцах по спектрам комбинационного рассеяния, а также для химического анализа поверхности твердых образцов на LabRam HR Evolution
€
28.48
Quick view
Измерение массовой доли влаги, анализ влажности
€
43.81
Quick view
Изготовление и визуализация кросс секции на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
€
350.47
Quick view
Диспергирование, смешение в потоке
€
131.43
Quick view
Визуализация наночастиц с использованием электронной томографии на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором
€
2,431.41
Quick view
Визуализация многослойных структур и гетероструктур с атомарным разрешением на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
€
1,423.80
Quick view
Аренда сканирующего электронного микроскопа Quattro S с возможностью работы в низком вакууме (с оператором ЦКП) за час
€
98.57
Quick view
Аренда Просвечивающего (сканирующего) электронного микроскопа Titan Themis Z (с оператором ЦКП) за час
€
219.05
Quick view
Аренда двухлучевого сканирующего электронного микроскопа Helios G4 Plasma FIB Uxe (с оператором ЦКП) за час
€
175.24
Quick view
Анализ распределения частиц по размеру в диапазоне 0,1 - 1000 мкм, диспергированных в воде или органическом растворителе
€
98.57
Quick view
Анализ морфологии частиц на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
€
262.85
Quick view