Изучение кристаллографической ориентировки зеренной структуры на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
Измерение содержания различных органических и неорганических веществ в твердых и жидких образцах по спектрам комбинационного рассеяния, а также для химического анализа поверхности твердых образцов на LabRam HR Evolution
Регистрация и анализ ИК спектра жидкости в диапазоне 3000 - 600 см'1
Исследование образца методом спектрофотометрии в УФ- и видимой области спектра
Приготовление тонких срезов образцов для исследования методом электронной микроскопии
Исследование образца методом оптической микроскопии на микроскопе высокого разрешения Imager Carl Zeiss
Количественное определение металлов в органических соединениях методом атомной абсорбционной спектроскопии (за элемент)
Измерение массовой доли влаги, анализ влажности
Определение плотности, объемной массы методом гидростатического взвешивания
Исследование образца методом ядерной магнитной релаксации
Лабораторное исследование и получение изображения на электронный сканирующем микроскопе JSM-6490LV
Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в воздушной среде
Центрифугирование
Качественный (полуколичественный) анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии
Определение дзета-потенциала частиц методом лазерного динамического светорассеивания
Получение 'Н ЯМР-спектра образца
Аренда сканирующего электронного микроскопа Quattro S с возможностью работы в низком вакууме (с оператором ЦКП) за час
Регистрация и анализ масс-спектра ионизации электрораспылением образца
Качественное определение состава образца органических соединений методом газовой хромато-масс-спектрометрии
Количественный анализ органических соединений методом высокоэффективной жидкостной хроматографии (за одно соединение)
Количественный анализ органических соединений методом газовой хроматографии с пламенно-ионизационным детектированием (за одно соединение)
Получение снимка поверхности на растровом электронном микроскопе
Анализ распределения частиц по размеру в диапазоне 0,1 - 1000 мкм, диспергированных в воде или органическом растворителе
Определение степени кристалличности образца методом рентгеновской дифрактометрии
Количественный анализ твердых образцов рентгенофлуоресцентного анализа с полным внешним отражением
Лабораторный анализ на инфракрасном спектрометре ИК-спектроскопия
Диспергирование, смешение в потоке
Количественное определение металлов в органических соединениях методом атомной эмиссионной спектроскопии с индуктивно связанной плазмой (за образец)
Качественный анализ состава образца (органических соединений) методом высокоэффективной жидкостной хромато-масс-спектрометрии (ионизация электрораспылением)
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent