Москва

Поиск

+7(495)661-61-09Mon-Fr 9a.m.-6p.m.
Request call

Search resultsProducts found: 91

Sort Alphabetically: A to Z
50 Per Page
Анализ морфологии частиц на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
24 000.00 ₽

Анализ морфологии частиц на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

+ −
Buy now with 1-click
Анализ распределения частиц по размеру в диапазоне 0,1 - 1000 мкм, диспергированных в воде или органическом растворителе
9 000.00 ₽

Анализ распределения частиц по размеру в диапазоне 0,1 - 1000 мкм, диспергированных в воде или органическом растворителе

+ −
Buy now with 1-click
Аренда двухлучевого сканирующего электронного микроскопа Helios G4 Plasma FIB Uxe (с оператором ЦКП) за час
16 000.00 ₽
Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe оснащен двумя колонами электронной Elstar с высокоточной технологией UC+ для...
+ −
Buy now with 1-click
Аренда Просвечивающего (сканирующего) электронного микроскопа Titan Themis Z (с оператором ЦКП) за час
20 000.00 ₽

Аренда Просвечивающего (сканирующего) электронного микроскопа Titan Themis Z (с оператором ЦКП) за час

+ −
Buy now with 1-click
Аренда сканирующего электронного микроскопа Quattro S с возможностью работы в низком вакууме (с оператором ЦКП) за час
9 000.00 ₽

Аренда сканирующего электронного микроскопа Quattro S с возможностью работы в низком вакууме (с оператором ЦКП) за час

+ −
Buy now with 1-click
Визуализация многослойных структур и гетероструктур с атомарным разрешением на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
130 000.00 ₽

Визуализация многослойных структур и гетероструктур с атомарным разрешением на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z

+ −
Buy now with 1-click
Визуализация наночастиц с использованием электронной томографии на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором
222 000.00 ₽
Визуализация наночастиц с использованием электронной томографии на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором
+ −
Buy now with 1-click
Диспергирование, смешение в потоке
12 000.00 ₽

Диспергирование,  смешение в потоке

+ −
Buy now with 1-click
Изготовление и визуализация кросс секции на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
32 000.00 ₽

Изготовление и визуализация кросс секции на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

+ −
Buy now with 1-click
Измерение массовой доли влаги, анализ влажности
4 000.00 ₽

Измерение массовой доли влаги,  анализ влажности 

+ −
Buy now with 1-click
Измерение содержания различных органических и неорганических веществ в твердых и жидких образцах по спектрам комбинационного рассеяния, а также для химического анализа поверхности твердых образцов на LabRam HR Evolution
2 600.00 ₽

Измерение содержания различных органических и неорганических веществ в твердых и жидких образцах по спектрам комбинационного рассеяния, а также для химического анализа поверхности твердых образцов на LabRam HR Evolution

+ −
Buy now with 1-click
Измерения линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведение локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком на микроскопе JIB-4500
20 000.00 ₽

Микроскоп электронно-ионный растровый JIB-4500 предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком.

Предназначен для управляемого локального травления сфокусированным ионным пучком проводящих и непроводящих объектов с заданным рисунком. В совокупности с микроманипулятором  IB-32010FPUS идеально подходит для оперативной подготовки образцов из выбранной области для исследования в ПЭМ.

+ −
Buy now with 1-click
Изучение кристаллографической ориентировки зеренной структуры на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
Contact us for a price

Изучение кристаллографической ориентировки зеренной структуры на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца по линии на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
60 000.00 ₽

Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца по линии на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM

+ −
Buy now with 1-click
Изучение морфологии наночастиц в ПЭМ и СПЭМ режимах на просвечивающем электронном микроскопе с пробкорректором Titan Themis Z
60 000.00 ₽

Изучение морфологии наночастиц в ПЭМ и СПЭМ режимах на просвечивающем электронном микроскопе с пробкорректором Titan Themis Z

+ −
Buy now with 1-click
Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов
30 000.00 ₽

Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов

+ −
Buy now with 1-click
Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S
14 000.00 ₽

Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S 

+ −
Buy now with 1-click
Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в воздушной среде
5 500.00 ₽

Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в воздушной среде

+ −
Buy now with 1-click
Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в воздушной среде [CLONE]
14 200.00 ₽

Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в воздушной среде

+ −
Buy now with 1-click
Исследование образца методом оптической микроскопии на микроскопе высокого разрешения Imager Carl Zeiss
3 500.00 ₽

Исследование образца методом оптической микроскопии на микроскопе высокого разрешения Imager Carl Zeiss

+ −
Buy now with 1-click
Исследование образца методом спектрофотометрии в УФ- и видимой области спектра
3 000.00 ₽

Исследование образца методом спектрофотометрии в УФ- и видимой области спектра

+ −
Buy now with 1-click
Исследование образца методом ядерной магнитной релаксации
5 000.00 ₽

Исследование образца методом ядерной магнитной релаксации

+ −
Buy now with 1-click
Исследование поверхности, исследование топографии микро- и нанообъектов на сканирующем электронном микроскопе Philips SEM515
9 800.00 ₽
Исследование поверхности, исследование топографии микро- и нанообъектов на сканирующем электронном микроскопе Philipls SEM515
+ −
Buy now with 1-click
Исследование термодеструкции образца методом совмещенного спектрального термоанализа
27 000.00 ₽

Исследование термодеструкции образца методом совмещенного спектрального термоанализа 

+ −
Buy now with 1-click
Исследование термодеструкции образца методом совмещенного спектрального термоанализа [CLONE]
32 000.00 ₽

Исследование термодеструкции образца методом совмещенного спектрального термоанализа 

+ −
Buy now with 1-click
Исследование элементного состава образца на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме Quattro S
14 000.00 ₽

Исследование элементного состава образца на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме Quattro S

+ −
Buy now with 1-click
Исследование элементного состава образца с картированием по 3 областям на сканирующем электронном микроскопе Quattro с возможностью работы в низком вакууме
24 000.00 ₽
Исследование элементного состава образца с картированием по 3 областям на сканирующем электронном микроскопе Quattro  с возможностью работы в низком...
+ −
Buy now with 1-click
Качественное определение состава образца органических соединений методом газовой хромато-масс-спектрометрии
9 000.00 ₽

Качественное определение состава образца органических соединений методом газовой хромато-масс-спектрометрии

+ −
Buy now with 1-click
Качественное определение состава образца органических соединений методом газовой хромато-масс-спектрометрии [CLONE]
9 000.00 ₽

Качественное определение состава образца органических соединений методом газовой хромато-масс-спектрометрии

+ −
Buy now with 1-click
Качественный (полуколичественный) анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии
6 000.00 ₽

Качественный (полуколичественный) анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии

+ −
Buy now with 1-click
Качественный (полуколичественный) анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии [CLONE]
6 000.00 ₽

Качественный (полуколичественный) анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии

+ −
Buy now with 1-click
Качественный (полуколичественный) анализ элементного состава образца методом энергодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии на анализаторе EDX-800HS
9 000.00 ₽
Описание аналитической задачи: Качественный (полуколичественный) анализ элементного состава образца методом энергодисперсионной рентгенофлуоресцентной...
+ −
Buy now with 1-click
Качественный (полуколичественный) анализ элементного состава образца методом энергодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии на анализаторе EDX-800HS [CLONE]
12 000.00 ₽
Описание аналитической задачи: Качественный (полуколичественный) анализ элементного состава образца методом энергодисперсионной рентгенофлуоресцентной...
+ −
Buy now with 1-click
Качественный анализ состава образца (органических соединений) методом высокоэффективной жидкостной хромато-масс-спектрометрии (ионизация электрораспылением)
12 000.00 ₽

Качественный анализ состава образца (органических соединений) методом высокоэффективной жидкостной хромато-масс-спектрометрии (ионизация электрораспылением)

+ −
Buy now with 1-click
Количественное определение галогенов в органических соединениях
20 000.00 ₽

Количественное определение галогенов в органических соединениях

+ −
Buy now with 1-click
Количественное определение металлов в органических соединениях методом атомной абсорбционной спектроскопии (за элемент)
3 900.00 ₽

Количественное определение металлов в органических соединениях методом атомной абсорбционной спектроскопии (за элемент)

+ −
Buy now with 1-click
Количественное определение металлов в органических соединениях методом атомной эмиссионной спектроскопии с индуктивно связанной плазмой (за образец)
12 000.00 ₽

Количественное определение металлов в органических соединениях методом атомной эмиссионной спектроскопии с индуктивно связанной плазмой (за образец)

+ −
Buy now with 1-click
Количественный CHNOS-элементный анализ твердых и жидких органических соединений
19 000.00 ₽

Количественный CHNOS-элементный анализ твердых и жидких органических соединений

+ −
Buy now with 1-click
Количественный анализ жидких образцов посредством рентгенофлуоресцентного анализа с полным внешним отражением
11 600.00 ₽

Количественный анализ твердых образцов рентгенофлуоресцентного анализа с полным внешним отражением

+ −
Buy now with 1-click
Количественный анализ жидких образцов посредством рентгенофлуоресцентного анализа с полным внешним отражением [CLONE]
12 000.00 ₽

Количественный анализ твердых образцов рентгенофлуоресцентного анализа с полным внешним отражением

+ −
Buy now with 1-click
Количественный анализ органических соединений методом высокоэффективной жидкостной хроматографии (за одно соединение)
9 000.00 ₽

Количественный анализ органических соединений методом высокоэффективной жидкостной хроматографии (за одно соединение)

+ −
Buy now with 1-click
Количественный анализ органических соединений методом газовой хроматографии с пламенно-ионизационным детектированием (за одно соединение)
9 000.00 ₽

Количественный анализ органических соединений методом газовой хроматографии с пламенно-ионизационным детектированием (за одно соединение)

+ −
Buy now with 1-click
Количественный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии
24 000.00 ₽

Количественный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии

+ −
Buy now with 1-click
Количественный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии [CLONE]
24 000.00 ₽

Количественный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии

+ −
Buy now with 1-click
Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров
29 600.00 ₽

Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров

+ −
Buy now with 1-click
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур на SEM микроскопе S-4800
18 000.00 ₽

Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур.

Применяется в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии. Оснащен автоэмиссионным катодом холодного типа.

Микроскоп обеспечивает работу в режимах регистрации вторичных,  отраженных электронов и в режиме «напросвет».

Основные технические характеристики

Разрешение при ускоряющем напряжении 15кВ   
1нм

Разрешение при ускоряющем напряжении 1кВ
1,5 нм

Эффективный диаметр электронного зонда во вторичных электронах при 15кВ
не более 10 нм.

Диапазон регулировки увеличения
30¸800000 крат.

Диапазон измерения линейных размеров
0,02¸10000 мкм

Погрешность измерений линейных размеров не более
5 %.

Диапазон регулировки ускоряющего напряжения
0,1¸30 кВ

Производитель:
Hitachi, Япония

+ −
Buy now with 1-click
Лабораторное исследование, получение нано- и микро-изображений, спектральный точечный тест на электронном сканирующем микроскопе JSM-6490LV
5 200.00 ₽

Лабораторное исследование и получение изображения на электронный сканирующем микроскопе JSM-6490LV

+ −
Buy now with 1-click
Лабораторный анализ на инфракрасном спектрометре ИК-спектроскопия
12 000.00 ₽

Лабораторный анализ на инфракрасном спектрометре ИК-спектроскопия  

+ −
Buy now with 1-click
Определение дзета-потенциала частиц методом лазерного динамического светорассеивания
7 000.00 ₽

Определение дзета-потенциала частиц методом лазерного динамического светорассеивания

+ −
Buy now with 1-click
Определение концентрации одного элемента в жидкой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой
34 500.00 ₽

Определение концентрации одного элемента в жидкой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой

+ −
Buy now with 1-click
 Prev
1 2
Next