English
Русский
English
(₽)
($)
(₽)
(€)
(£)
Описание
О проекте
Зарегистрировать лабораторию
Лаборатории
Сотрудничество
Контакты
Москва
Мой профиль
Orders
Comparison list
Wish list
Track my order(s)
Track my order(s)
Sign in
Register
E-mail
Password
Forgot your password?
Register for a new account
Sign in
Remember me
Поиск
+7(495)
661-61-09
Mon-Fr 9a.m.-6p.m.
Request call
Cart is empty
Cart is empty
View cart
Checkout
Menu
Каталог услуг
Научные аналитические исследования и тесты
Спектральные исследования и анализы
Хроматографические тесты и исследования
Рентгеноструктурные анализы и тесты
Микроскопические тесты и исследования
Анализ пористости проницаемости
Профилометрия и топографический анализ
View more
→
Микробиологические исследования и анализы
Секвенирование
Цитофлуориметрия
Физико-механические испытания
Химические исследования и анализы
Медицинские анализы и тесты
Обработка материалов
Аренда оборудования
123456
Анализ алкоголя
Анализ воды
Анализ почвы
Анализы пищевых продуктов
Научные исследования
Анализ пластмассы
Измерение толщины
Исследование древесины
Анализ лакокрасочных материалов
Тесты и анализы металла
Химические исследования
Исследование порошков
Стандарты и методики
Каталог лабораторий
Каталог производителей
Каталог оборудования
Скидки
Home
/
Search results
Search results
Products found: 91
Oldest Items First
Newest Items First
Sort Alphabetically: A to Z
Sort Alphabetically: Z to A
Sort by Price: Low to High
Sort by Price: High to Low
Sort by Popularity
50 Per Page
12 Per Page
24 Per Page
48 Per Page
96 Per Page
Лабораторное исследование, получение нано- и микро-изображений, спектральный точечный тест на электронном сканирующем микроскопе JSM-6490LV
5 200.00
₽
Quick view
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур на SEM микроскопе S-4800
18 000.00
₽
Quick view
Измерения линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведение локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком на микроскопе JIB-4500
20 000.00
₽
Quick view
Исследование поверхности, исследование топографии микро- и нанообъектов на сканирующем электронном микроскопе Philips SEM515
9 800.00
₽
Quick view
Аренда Просвечивающего (сканирующего) электронного микроскопа Titan Themis Z (с оператором ЦКП) за час
20 000.00
₽
Quick view
Аренда сканирующего электронного микроскопа Quattro S с возможностью работы в низком вакууме (с оператором ЦКП) за час
9 000.00
₽
Quick view
Аренда двухлучевого сканирующего электронного микроскопа Helios G4 Plasma FIB Uxe (с оператором ЦКП) за час
16 000.00
₽
Quick view
Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S
14 000.00
₽
Quick view
Исследование элементного состава образца на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме Quattro S
14 000.00
₽
Quick view
Исследование элементного состава образца с картированием по 3 областям на сканирующем электронном микроскопе Quattro с возможностью работы в низком вакууме
24 000.00
₽
Quick view
Анализ морфологии частиц на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
24 000.00
₽
Quick view
Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов
30 000.00
₽
Quick view
Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
34 000.00
₽
Quick view
Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
62 000.00
₽
Quick view
Изготовление и визуализация кросс секции на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
32 000.00
₽
Quick view
Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца по линии на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
60 000.00
₽
Quick view
Изучение кристаллографической ориентировки зеренной структуры на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
Contact us for a price
Quick view
Изучение морфологии наночастиц в ПЭМ и СПЭМ режимах на просвечивающем электронном микроскопе с пробкорректором Titan Themis Z
60 000.00
₽
Quick view
Визуализация наночастиц с использованием электронной томографии на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором
222 000.00
₽
Quick view
Визуализация многослойных структур и гетероструктур с атомарным разрешением на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
130 000.00
₽
Quick view
Измерение содержания различных органических и неорганических веществ в твердых и жидких образцах по спектрам комбинационного рассеяния, а также для химического анализа поверхности твердых образцов на LabRam HR Evolution
2 600.00
₽
Quick view
Определение плотности, объемной массы методом гидростатического взвешивания
5 000.00
₽
Quick view
Лабораторный анализ на инфракрасном спектрометре ИК-спектроскопия
12 000.00
₽
Quick view
Центрифугирование
6 000.00
₽
Quick view
Диспергирование, смешение в потоке
12 000.00
₽
Quick view
Измерение массовой доли влаги, анализ влажности
4 000.00
₽
Quick view
Количественный CHNOS-элементный анализ твердых и жидких органических соединений
19 000.00
₽
Quick view
Количественное определение галогенов в органических соединениях
20 000.00
₽
Quick view
Количественное определение металлов в органических соединениях методом атомной эмиссионной спектроскопии с индуктивно связанной плазмой (за образец)
12 000.00
₽
Quick view
Количественное определение металлов в органических соединениях методом атомной абсорбционной спектроскопии (за элемент)
3 900.00
₽
Quick view
Качественный (полуколичественный) анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии
6 000.00
₽
Quick view
Качественный (полуколичественный) анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии [CLONE]
6 000.00
₽
Quick view
Регистрация и анализ ИК спектра жидкости в диапазоне 3000 - 600 см'1
3 000.00
₽
Quick view
Регистрация и анализ ИК спектра жидкости в диапазоне 3000 - 600 см'1 [CLONE]
6 000.00
₽
Quick view
Регистрация и анализ ИК спектра жидкости в диапазоне 3000 - 600 см'1 [CLONE] [CLONE]
3 000.00
₽
Quick view
Исследование образца методом спектрофотометрии в УФ- и видимой области спектра
3 000.00
₽
Quick view
Регистрация и анализ масс-спектра ионизации электрораспылением образца
9 000.00
₽
Quick view
Регистрация и анализ масс-спектра ионизации электрораспылением образца [CLONE]
18 000.00
₽
Quick view
Регистрация и анализ масс-спектра ионизации электрораспылением образца [CLONE] [CLONE]
27 000.00
₽
Quick view
Регистрация и анализ масс-спектра ионизации электрораспылением образца [CLONE] [CLONE] [CLONE]
18 000.00
₽
Quick view
Качественное определение состава образца органических соединений методом газовой хромато-масс-спектрометрии
9 000.00
₽
Quick view
Качественное определение состава образца органических соединений методом газовой хромато-масс-спектрометрии [CLONE]
9 000.00
₽
Quick view
Количественный анализ органических соединений методом высокоэффективной жидкостной хроматографии (за одно соединение)
9 000.00
₽
Quick view
Количественный анализ органических соединений методом газовой хроматографии с пламенно-ионизационным детектированием (за одно соединение)
9 000.00
₽
Quick view
Качественный анализ состава образца (органических соединений) методом высокоэффективной жидкостной хромато-масс-спектрометрии (ионизация электрораспылением)
12 000.00
₽
Quick view
Получение снимка поверхности на растровом электронном микроскопе
9 000.00
₽
Quick view
Получение снимка поверхности на растровом электронном микроскопе [CLONE]
20 000.00
₽
Quick view
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent
12 000.00
₽
Quick view
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent [CLONE]
12 000.00
₽
Quick view
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent [CLONE] [CLONE]
12 000.00
₽
Quick view
Prev
1
2
Next