Русский
Русский
English
(£)
($)
(₽)
(€)
(£)
Описание
Сотрудничество
Зарегистрировать лабораторию
Блог
Доставка
Контакты
Москва
Мой профиль
Заказы
Список сравнения
Отложенные товары
Отслеживание заказа
Отслеживание заказа
Войти
Регистрация
E-mail
Пароль
Забыли пароль?
Создать учетную запись
Войти
Запомнить
Поиск
+7(495)
661-61-09
Пн-Пт: 9:00-18:00
Заказать обратный звонок
Корзина пуста
Корзина пуста
Корзина
Оформить заказ
Меню
Каталог тестов
Научные аналитические исследования и тесты
Спектральные исследования и анализы
Хроматографические тесты и исследования
Рентгеноструктурные анализы и тесты
Микроскопические тесты и исследования
Анализ пористости проницаемости
Профилометрия и топографический анализ
Больше
→
Микробиологические исследования и анализы
Секвенирование
Цитофлуорометрия
Физико-механические испытания
Физико-химические исследования и анализы
Медицинские анализы и тесты
Обработка материалов
Аренда оборудования
Типы анализов
Анализ алкоголя
Анализ воды
Анализ почвы
Анализы пищевых продуктов
Научные исследования
Анализ пластмасс и полимеров
Измерение толщины
Исследование древесины
Анализ лакокрасочных материалов
Тесты и анализы металла
Химические исследования
Исследование порошков
Стандарты и методики
Каталог лабораторий
Каталог производителей
Каталог оборудования
Заявка
Главная
/
Результаты поиска
Результаты поиска
Найдено товаров: 91
Сортировать по популярности: по убыванию
Сортировать по времени: новинки выше
Сортировать по алфавиту: от А до Я
Сортировать по алфавиту: от Я до А
Сортировать по цене: дешевые выше
Сортировать по цене: дорогие выше
50 На страницу
12 На страницу
24 На страницу
48 На страницу
96 На страницу
Лабораторное исследование, получение нано- и микро-изображений, спектральный точечный тест на электронном сканирующем микроскопе JSM-6490LV
КОД:
£
51.45
+
−
В корзину
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур на SEM микроскопе S-4800
КОД:
£
178.09
+
−
В корзину
Измерения линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведение локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком на микроскопе JIB-4500
КОД:
£
197.87
+
−
В корзину
Аренда двухлучевого сканирующего электронного микроскопа Helios G4 Plasma FIB Uxe (с оператором ЦКП) за час
КОД:
£
158.30
+
−
В корзину
Исследование поверхности, исследование топографии микро- и нанообъектов на сканирующем электронном микроскопе Philips SEM515
КОД:
£
96.96
+
−
В корзину
Аренда сканирующего электронного микроскопа Quattro S с возможностью работы в низком вакууме (с оператором ЦКП) за час
КОД:
£
89.04
+
−
В корзину
Аренда Просвечивающего (сканирующего) электронного микроскопа Titan Themis Z (с оператором ЦКП) за час
КОД:
£
197.87
+
−
В корзину
Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S
КОД:
£
138.51
+
−
В корзину
Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
КОД:
£
613.41
+
−
В корзину
Изготовление и визуализация кросс секции на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
КОД:
£
316.60
+
−
В корзину
Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
КОД:
£
336.38
+
−
В корзину
Исследование элементного состава образца с картированием по 3 областям на сканирующем электронном микроскопе Quattro с возможностью работы в низком вакууме
КОД:
£
237.45
+
−
В корзину
Регистрация ЯМР спектра фтора 19F на спектрометре Agilent
КОД:
£
118.72
+
−
В корзину
Регистрация ЯМР спектра углерода на спектрометре Agilent
КОД:
£
118.72
+
−
В корзину
Регистрация ЯМР спектра фосфора 31P на спектрометре Agilent
КОД:
£
118.72
+
−
В корзину
Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 2 категории сложности
КОД:
£
1,978.73
+
−
В корзину
Исследование элементного состава образца на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме Quattro S
КОД:
£
138.51
+
−
В корзину
Визуализация многослойных структур и гетероструктур с атомарным разрешением на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
КОД:
£
1,286.18
+
−
В корзину
Регистрация одномерного ЯМР спектра при переменной температуре
КОД:
£
474.90
+
−
В корзину
Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 1 категории сложности
КОД:
£
672.77
+
−
В корзину
Количественный CHNOS-элементный анализ твердых и жидких органических соединений
КОД:
£
187.98
+
−
В корзину
Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов
КОД:
£
296.81
+
−
В корзину
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent
КОД:
£
118.72
+
−
В корзину
Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца по линии на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
КОД:
£
593.62
+
−
В корзину
Количественный анализ органических соединений методом газовой хромато-масс-спектрометрии (за одно соединение)
КОД:
£
89.04
+
−
В корзину
Регистрация ЯМР спектра кремния 29 Si на спектрометре Agilent
КОД:
£
118.72
+
−
В корзину
Исследование морфологии поверхности на SEM сканирующем электронном микроскопе
КОД:
£
89.04
+
−
В корзину
Регистрация ЯМР спектра водорода 2H на спектрометре Agilent
КОД:
£
118.72
+
−
В корзину
Элементный анализ микрообъектов с использованием метода сканирующей электронной микроскопии
КОД:
£
157.80
+
−
В корзину
Регистрация ЯМР спектра азота 15N на спектрометре Agilent
КОД:
£
118.72
+
−
В корзину
Определение элементного состава микроучастка поверхности на растровом электронном микроскопе с помощью приставок для волнодисперсионного или энергодисперсионного ренгенофлуоресцентного анализа
КОД:
£
197.87
+
−
В корзину
Визуализация наночастиц с использованием электронной томографии на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором
КОД:
£
2,196.40
+
−
В корзину
Количественный анализ элементного состава образца методом энергодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии на анализаторе EDX-800HS
КОД:
£
118.72
+
−
В корзину
Регистрация и анализ ИК спектра жидкости в диапазоне 3000 - 600 см'1
КОД:
£
29.68
+
−
В корзину
Анализ морфологии частиц на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
КОД:
£
237.45
+
−
В корзину
Качественное определение состава образца органических соединений методом газовой хромато-масс-спектрометрии
КОД:
£
89.04
+
−
В корзину
Исследование образца методом оптической микроскопии на микроскопе высокого разрешения Imager Carl Zeiss
КОД:
£
34.63
+
−
В корзину
Идентификация образца методом рентгеновской дифрактометрии
КОД:
£
108.83
+
−
В корзину
Изучение морфологии наночастиц в ПЭМ и СПЭМ режимах на просвечивающем электронном микроскопе с пробкорректором Titan Themis Z
КОД:
£
593.62
+
−
В корзину
Регистрация и расшифровка рентгеноструктурных дифрактограмм кристаллических веществ
КОД:
£
148.41
+
−
В корзину
Биологическая визуализация и измерение содержания различных органических и неорганических веществ в твердых и жидких образцах по спектрам комбинационного рассеяния, а также химический анализ поверхности твердых образцов на LabRam HR Evolution
КОД:
£
25.72
+
−
В корзину
Количественный анализ органических соединений методом газовой хроматографии с пламенно-ионизационным детектированием (за одно соединение)
КОД:
£
89.04
+
−
В корзину
Получение снимка поверхности на SEM растровом электронном микроскопе
КОД:
£
89.04
+
−
В корзину
Качественный анализ состава образца (органических соединений) методом высокоэффективной жидкостной хромато-масс-спектрометрии (ионизация электрораспылением)
КОД:
£
118.72
+
−
В корзину
Качественный (полуколичественный) анализ элементного состава образца методом энергодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии на анализаторе EDX-800HS
КОД:
£
89.04
+
−
В корзину
Приготовление тонких срезов образцов для исследования методом электронной микроскопии
КОД:
£
29.68
+
−
В корзину
Количественный анализ органических соединений методом высокоэффективной жидкостной хроматографии (за одно соединение)
КОД:
£
89.04
+
−
В корзину
Лабораторный анализ на инфракрасном спектрометре ИК-спектроскопия
КОД:
£
118.72
+
−
В корзину
Получение изображения поверхности образца методом сканирующей электронной микроскопии
КОД:
£
106.85
+
−
В корзину
Количественное определение галогенов в органических соединениях
КОД:
£
197.87
+
−
В корзину
Назад
1
2
Вперед