Результаты поиска

Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM

62 000.00 ₽

Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Элементный анализ микрообъектов с использованием метода сканирующей электронной микроскопии

15 950.00 ₽

Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп ΣIGMA, Научные исследования, Carl Zeiss

Элементный анализ микрообъектов с использованием метода сканирующей электронной микроскопии

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Центрифугирование

6 000.00 ₽

Универсальная центрифуга для пробирок SIGMA 2 -16P, Научные исследования

Центрифугирование

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 2 категории сложности

200 000.00 ₽

ЯМР-спектрометр Agilent DD2 400 NB, Научные исследования, Agilent Technologies

Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 2 категории сложности

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 1 категории сложности

68 000.00 ₽

ЯМР-спектрометр Agilent DD2 400 NB, Научные исследования, Agilent Technologies

Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 1 категории сложности

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация ЯМР спектра фтора 19F на спектрометре Agilent

12 000.00 ₽

ЯМР-спектрометр Agilent DD2 400 NB, Научные исследования, Agilent Technologies

Регистрация ЯМР спектра фтора 19F на спектрометре Agilent

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация ЯМР спектра фосфора 31P на спектрометре Agilent

12 000.00 ₽

ЯМР-спектрометр Agilent DD2 400 NB, Научные исследования, Agilent Technologies

Регистрация ЯМР спектра фосфора на спектрометре Agilent

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация ЯМР спектра углерода на спектрометре Agilent

12 000.00 ₽

ЯМР-спектрометр Agilent DD2 400 NB, Научные исследования, Agilent Technologies

Регистрация ЯМР спектра углерода на спектрометре Agilent

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация ЯМР спектра кремния 29 Si на спектрометре Agilent

12 000.00 ₽

ЯМР-спектрометр Agilent DD2 400 NB, Научные исследования, Agilent Technologies

Регистрация ЯМР спектра кремния 29 Si на спектрометре Agilent

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent

12 000.00 ₽

ЯМР-спектрометр Agilent DD2 400 NB, Научные исследования, Agilent Technologies

Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация ЯМР спектра водорода 2H на спектрометре Agilent

12 000.00 ₽

ЯМР-спектрометр Agilent DD2 400 NB, Научные исследования, Agilent Technologies

Регистрация ЯМР спектра фосфора на спектрометре Agilent

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация ЯМР спектра азота 15N на спектрометре Agilent

12 000.00 ₽

ЯМР-спектрометр Agilent DD2 400 NB, Научные исследования, Agilent Technologies

Регистрация ЯМР спектра фосфора на спектрометре Agilent

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация одномерного ЯМР спектра при переменной температуре

48 000.00 ₽

ЯМР-спектрометр Agilent DD2 400 NB, Научные исследования, Agilent Technologies

Регистрация одномерного ЯМР спектра при переменной температуре

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация и расшифровка рентгеноструктурных дифрактограмм кристаллических веществ

15 000.00 ₽

Рентгеновский порошковый дифрактометр LabX XRD-6100, Научные исследования, Shimadzu, ГОСТ Р 51795-2019 Цементы. Методы определения содержания минеральных добавок

Регистрация и расшифровка рентгеноструктурных дифрактограмм кристаллических веществ

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация и анализ масс-спектра ионизации электрораспылением образца

9 000.00 ₽

Времяпролетный тандемный масс-спектрометр высокого разрешения с матрично-ассоциированной лазерной десорбцией-ионизацией Axima (MALDI), Научные исследования, Shimadzu

Регистрация и анализ масс-спектра ионизации электрораспылением образца

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация и анализ ИК спектра твердого образца в вазелиновом масле в диапазоне 3000 - 600 см'1

6 000.00 ₽

ИК-Фурье спектрофотометр FTIR-8400S, Научные исследования, Shimadzu, 54201 Методика определения минеральных масел на поверхности кислородного оборудования, в газах, жидком кислороде и растворителе Forane на ИК спектрометре FTIR-8400S фирмы Shimadzu. М-02-2602-08

регистрация ИК спектра, анализ ИК спектра, ИК анализ жидкости, ИК исследование, инфракрасный анализ, инфракрасный анализ жидкости

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация и анализ ИК спектра жидкости в диапазоне 3000 - 600 см'1

3 000.00 ₽

ИК-Фурье спектрофотометр FTIR-8400S, Научные исследования, Shimadzu, 54201 Методика определения минеральных масел на поверхности кислородного оборудования, в газах, жидком кислороде и растворителе Forane на ИК спектрометре FTIR-8400S фирмы Shimadzu. М-02-2602-08

Регистрация и анализ ИК спектра жидкости в диапазоне 3000 - 600 см'1

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация 13C ЯМР-спектра твердого образца

26 000.00 ₽

Спектрометр ЯМР Avance III 600, Научные исследования, Bruker

Регистрация 13С ЯМР-спектра твердого образца

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

34 000.00 ₽

Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Пробоподготовка методом лиофильного высушивания

7 000.00 ₽

Настольная лиофильная сушка FreeZone Triad 2.5L -85°C с функцией автоматической укупорки, Научные исследования, Labconco

Пробоподготовка методом лиофильного высушивания

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Приготовление тонких срезов образцов для исследования методом электронной микроскопии

3 000.00 ₽

Ультрамикротом для электронного микроскопа Powertome, Научные исследования, Carl Zeiss

Приготовление тонких срезов образцов для исследования методом электронной микроскопии

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Получение ЯМР спектров на ядрах F и Р (твердый образец)

26 000.00 ₽

Спектрометр ЯМР Avance III 600, Научные исследования, Bruker

Получение ЯМР спектров на ядрах F и Р (твердый образец)

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Получение ЯМР спектров на ядрах F и Р (жидкий образец)

8 000.00 ₽

Спектрометр ЯМР Avance III 600, Научные исследования, Bruker

Получение ЯМР спектров на ядрах F и Р (жидкий образец)

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Получение снимка поверхности на SEM растровом электронном микроскопе

9 000.00 ₽

Растровый электронный микроскоп JEOL JSM-IT300LV, Научные исследования, JEOL

Получение снимка поверхности на растровом электронном микроскопе

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Получение набора двумерных ЯМР-спектров для растворимого образца COSY, TOCSY, NOESY, HSQC, НМВС

80 000.00 ₽

Спектрометр ЯМР Avance III 600, Научные исследования, Bruker

Получение набора двумерных ЯМР-спектров для растворимого образца COSY, TOCSY, NOESY, HSQC, НМВС

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Получение изображения поверхности образца методом сканирующей электронной микроскопии

10 800.00 ₽

Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп ΣIGMA, Научные исследования, Carl Zeiss

Описание лабораторного тестирования: Получение изображения поверхности образца методом сканирующей электронной микроскопии Используемое...

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Получение 1H ЯМР-спектра образца

7 000.00 ₽

Спектрометр ЯМР Avance III 600, Научные исследования, Bruker

Получение 'Н ЯМР-спектра образца

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Получение 13C ЯМР-спектра хорошо растворимого в растворителях для ЯМР образца

7 000.00 ₽

Спектрометр ЯМР Avance III 600, Научные исследования, Bruker

Получение 13C ЯМР-спектра хорошо растворимого в растворителях для ЯМР образца

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Определение элементного состава микроучастка поверхности на растровом электронном микроскопе с помощью приставок для волнодисперсионного или энергодисперсионного ренгенофлуоресцентного анализа

20 000.00 ₽

Растровый электронный микроскоп JEOL JSM-IT300LV, Научные исследования, JEOL

Определение элементного состава микроучастка поверхности на растровом электронном микроскопе с помощью приставок для волнодисперсионного или энергодисперсионного ренгенофлуоресцентного анализа

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Определение удельной поверхности, общей пористости, распределения пор по размерам

18 000.00 ₽

Высокоточная многофункциональная сорбционная система Autosorb iQ , Научные исследования, Quantachrome Instruments

Определение удельной поверхности, общей пористости, распределения пор по размерам

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Определение точного значения массы иона с помощью матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации

18 000.00 ₽

Времяпролетный тандемный масс-спектрометр высокого разрешения с матрично-ассоциированной лазерной десорбцией-ионизацией Axima (MALDI), Научные исследования, Shimadzu

Определение точного значения массы иона с помощью матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Определение степени кристалличности образца методом рентгеновской дифрактометрии

11 000.00 ₽

Рентгеновский дифрактометр XRD-7000, Научные исследования, Shimadzu

Определение степени кристалличности образца методом рентгеновской дифрактометрии

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Определение плотности, объемной массы методом гидростатического взвешивания

5 000.00 ₽

Лабораторные аналитические весы AND GH-252 , Научные исследования, A&D, ГОСТ 15139-69 Пластмассы. Методы определения плотности (объемной массы)

Определение плотности, объемной массы методом гидростатического взвешивания

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Определение концентрации одного элемента в твердой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой

35 500.00 ₽

Масс-спектрометр с индуктивно связанной плазмой Aurora M90 и Aurora Elite, Научные исследования, Bruker

Определение концентрации одного элемента в твердой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Определение концентрации одного элемента в жидкой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой

34 500.00 ₽

Масс-спектрометр с индуктивно связанной плазмой Aurora M90 и Aurora Elite, Научные исследования, Bruker

Определение концентрации одного элемента в жидкой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Определение количественного соотношения кристаллических фаз и степени кристалличности вещества посредством рентгеноструктурного анализа

20 000.00 ₽

Рентгеновский порошковый дифрактометр LabX XRD-6100, Научные исследования, Shimadzu, ГОСТ 28967-91 Битумы нефтяные. Рентгенофазовый метод определения парафинов

Определение количественного соотношения кристаллических фаз и степени кристалличности вещества посредством рентгеноструктурного анализа

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Определение дзета-потенциала частиц методом лазерного динамического светорассеивания, анализ размеров наночастиц

7 000.00 ₽

Анализатор размеров частиц, дзета-потенциала и молекулярной массы NanoBrook Omni , Научные исследования, Brookhaven Instruments, ГОСТ Р 8.774-2011 Государственная система обеспечения единства измерений. Дисперсный состав жидких сред. Определение размеров частиц по динамическому рассеянию света

Определение дзета-потенциала частиц методом лазерного динамического светорассеивания

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Определение гидросильных групп образца методом ЯМР спектрометрии на ядрах Р. с предварительным фосфитилированием

24 000.00 ₽

Спектрометр ЯМР Avance III 600, Научные исследования, Bruker

Определение гидросильных групп образца методом ЯМР спектрометрии на ядрах Р. с предварительным фосфитилированием

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Масс-спектральный анализ матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации образца в режиме фрагментации

27 000.00 ₽

Времяпролетный тандемный масс-спектрометр высокого разрешения с матрично-ассоциированной лазерной десорбцией-ионизацией Axima (MALDI), Научные исследования, Shimadzu

Масс-спектральный анализ матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации образца в режиме фрагментации

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Масс-спектральный анализ матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации образца в линейном режиме

18 000.00 ₽

Времяпролетный тандемный масс-спектрометр высокого разрешения с матрично-ассоциированной лазерной десорбцией-ионизацией Axima (MALDI), Научные исследования, Shimadzu

Масс-спектральный анализ матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации образца в линейном режиме

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Лабораторный анализ на инфракрасном спектрометре ИК-спектроскопия

12 000.00 ₽

ИК-Фурье спектрометр Bruker Tensor 27, Научные исследования, Bruker

Лабораторный анализ на инфракрасном спектрометре ИК-спектроскопия

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Лабораторное исследование, получение нано- и микро-изображений, спектральный точечный тест на электронном сканирующем микроскопе JSM-6490LV

5 200.00 ₽

Микроскоп электронный сканирующий JSM-6490LV, Научные исследования, JEOL, 42452 ФР.1.27.2011.09314 Методика выполнения измерений размеров частиц и распределения частиц по размерам для неэлектропроводящих частиц с помощью растрового электронного микроскопа

Лабораторное исследование и получение изображения на электронный сканирующем микроскопе JSM-6490LV

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур на SEM микроскопе S-4800

18 000.00 ₽

Микроскоп электронный растровый S-4800, Научные исследования, HITACHI, 28123 ФР.1.27.2017.27749 Измерение линейных размеров элементов рельефа поверхности ступенчатой формы по вертикальной оси с использованием принципов фотограмметрии при помощи микроскопа электронного растрового S-4800 в диапазоне измерений линейных размеро

Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур.

Применяется в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии. Оснащен автоэмиссионным катодом холодного типа.

Микроскоп обеспечивает работу в режимах регистрации вторичных, отраженных электронов и в режиме «напросвет».

Основные технические характеристики

Разрешение при ускоряющем напряжении 15кВ
1нм

Разрешение при ускоряющем напряжении 1кВ
1,5 нм

Эффективный диаметр электронного зонда во вторичных электронах при 15кВ
не более 10 нм.

Диапазон регулировки увеличения
30¸800000 крат.

Диапазон измерения линейных размеров
0,02¸10000 мкм

Погрешность измерений линейных размеров не более
5 %.

Диапазон регулировки ускоряющего напряжения
0,1¸30 кВ

Производитель:
Hitachi, Япония

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров

24 000.00 ₽

Энергодисперсионные спектрометры EDX-7000/8000, Научные исследования, Shimadzu

Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров

29 600.00 ₽

Последовательный рентгенофлуоресцентный волнодисперсионный спектрометр Shimadzu Lab Center XRF-1800, Научные исследования, Shimadzu

Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров

Кол-во:

+ −