Москва

Поиск

+7(495)661-61-09Пн-Пт: 9:00-18:00
Заказать обратный звонок

Результаты поискаНайдено товаров: 91

Сортировать по алфавиту: от Я до А
50 На страницу
Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
€679.04
+ −
Элементный анализ микрообъектов с использованием метода сканирующей электронной микроскопии
€174.69
+ −
Центрифугирование
€65.71
+ −
Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 2 категории сложности
€2,190.46
+ −
Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 1 категории сложности
€744.75
+ −
Регистрация ЯМР спектра фтора 19F на спектрометре Agilent
€131.43
+ −
Регистрация ЯМР спектра фосфора 31P на спектрометре Agilent
€131.43
+ −
Регистрация ЯМР спектра углерода на спектрометре Agilent
€131.43
+ −
Регистрация ЯМР спектра кремния 29 Si на спектрометре Agilent
€131.43
+ −
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent
€131.43
+ −
Регистрация ЯМР спектра водорода 2H на спектрометре Agilent
€131.43
+ −
Регистрация ЯМР спектра азота 15N на спектрометре Agilent
€131.43
+ −
Регистрация одномерного ЯМР спектра при переменной температуре
€525.71
+ −
Регистрация и расшифровка рентгеноструктурных дифрактограмм кристаллических веществ
€164.28
+ −
Регистрация и анализ масс-спектра ионизации электрораспылением образца
€98.57
+ −
Регистрация и анализ ИК спектра твердого образца в вазелиновом масле в диапазоне 3000 - 600 см'1
€65.71
+ −
Регистрация и анализ ИК спектра жидкости в диапазоне 3000 - 600 см'1
€32.86
+ −
Регистрация 13C ЯМР-спектра твердого образца
€284.76
+ −
Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
€372.38
+ −
Пробоподготовка методом лиофильного высушивания
€76.67
+ −
Приготовление тонких срезов образцов для исследования методом электронной микроскопии
€32.86
+ −
Получение ЯМР спектров на ядрах F и Р (твердый образец)
€284.76
+ −
Получение ЯМР спектров на ядрах F и Р (жидкий образец)
€87.62
+ −
Получение снимка поверхности на SEM растровом электронном микроскопе
€98.57
+ −
Получение набора двумерных ЯМР-спектров для растворимого образца COSY, TOCSY, NOESY, HSQC, НМВС
€876.18
+ −
Получение изображения поверхности образца методом сканирующей электронной микроскопии
€118.28
+ −
Получение 1H ЯМР-спектра образца
€76.67
+ −
Получение 13C ЯМР-спектра хорошо растворимого в растворителях для ЯМР образца
€76.67
+ −
Определение элементного состава микроучастка поверхности на растровом электронном микроскопе с помощью приставок для волнодисперсионного или энергодисперсионного ренгенофлуоресцентного анализа
€219.05
+ −
Определение удельной поверхности, общей пористости, распределения пор по размерам
€197.14
+ −
Определение точного значения массы иона с помощью матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации
€197.14
+ −
Определение степени кристалличности образца методом рентгеновской дифрактометрии
€120.48
+ −
Определение плотности, объемной массы методом гидростатического взвешивания
€54.76
+ −
Определение концентрации одного элемента в твердой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой
€388.81
+ −
Определение концентрации одного элемента в жидкой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой
€377.85
+ −
Определение количественного соотношения кристаллических фаз и степени кристалличности вещества посредством рентгеноструктурного анализа
€219.05
+ −
Определение дзета-потенциала частиц методом лазерного динамического светорассеивания, анализ размеров наночастиц
€76.67
+ −
Определение гидросильных групп образца методом ЯМР спектрометрии на ядрах Р. с предварительным фосфитилированием
€262.85
+ −
Масс-спектральный анализ матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации образца в режиме фрагментации
€295.71
+ −
Масс-спектральный анализ матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации образца в линейном режиме
€197.14
+ −
Лабораторный анализ на инфракрасном спектрометре ИК-спектроскопия
€131.43
+ −
Лабораторное исследование, получение нано- и микро-изображений, спектральный точечный тест на электронном сканирующем микроскопе JSM-6490LV
€56.95
+ −
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур на SEM микроскопе S-4800
€197.14
+ −
Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров
€262.85
+ −
Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров
€324.19
+ −
Количественный анализ элементного состава образца методом энергодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии на анализаторе EDX-800HS
€131.43
+ −
Количественный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии
€262.85
+ −
Количественный анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии
€65.71
+ −
Количественный анализ твердых образцов посредством рентгенофлуоресцентного анализа с полным внешним отражением
€131.43
+ −
Количественный анализ органических соединений методом газовой хроматографии с пламенно-ионизационным детектированием (за одно соединение)
€98.57
+ −
 Назад
1 2
Вперед