Результаты поиска

Анализ морфологии частиц на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

24 000.00 ₽

Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Анализ морфологии частиц на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Аренда сканирующего электронного микроскопа Quattro S с возможностью работы в низком вакууме (с оператором ЦКП) за час

9 000.00 ₽

Сканирующий электронный микроскоп Quattro S, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Аренда сканирующего электронного микроскопа Quattro S с возможностью работы в низком вакууме (с оператором ЦКП) за час

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Визуализация наночастиц с использованием электронной томографии на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором

222 000.00 ₽

Просвечивающий (сканирующий) электронный микроскоп Titan Themis Z, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Визуализация наночастиц с использованием электронной томографии на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Изготовление и визуализация кросс секции на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

32 000.00 ₽

Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Изготовление и визуализация кросс секции на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Измерения линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведение локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком на микроскопе JIB-4500

20 000.00 ₽

ЭЛЕКТРОННО-ИОННЫЙ МИКРОСКОП JIB-4500 C МИКРОМАНИПУЛЯТОРОМ IB-32010FPUS, Научные исследования, JEOL

Микроскоп электронно-ионный растровый JIB-4500 предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком.

Предназначен для управляемого локального травления сфокусированным ионным пучком проводящих и непроводящих объектов с заданным рисунком. В совокупности с микроманипулятором IB-32010FPUS идеально подходит для оперативной подготовки образцов из выбранной области для исследования в ПЭМ.

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Изучение кристаллографической ориентировки зеренной структуры на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

Свяжитесь с нами насчёт цены

Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Изучение кристаллографической ориентировки зеренной структуры на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца по линии на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM

60 000.00 ₽

Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца по линии на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов

30 000.00 ₽

Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Исследование морфологии поверхности на SEM сканирующем электронном микроскопе

9 000.00 ₽

Растровый электронный микроскоп JEOL JSM-IT300LV, Научные исследования, JEOL

Исследование морфологии поверхности на сканирующем электронном микроскопе

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S

14 000.00 ₽

Сканирующий электронный микроскоп Quattro S, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Исследование поверхности, исследование топографии микро- и нанообъектов на сканирующем электронном микроскопе Philips SEM515

9 800.00 ₽

Сканирующий электронный микроскоп SEM-515, Научные исследования, Philips

Исследование поверхности, исследование топографии микро- и нанообъектов на сканирующем электронном микроскопе Philipls SEM515

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Исследование элементного состава образца на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме Quattro S

14 000.00 ₽

Сканирующий электронный микроскоп Quattro S, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Исследование элементного состава образца на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме Quattro S

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Исследование элементного состава образца с картированием по 3 областям на сканирующем электронном микроскопе Quattro с возможностью работы в низком вакууме

24 000.00 ₽

Сканирующий электронный микроскоп Quattro S, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Исследование элементного состава образца с картированием по 3 областям на сканирующем электронном микроскопе Quattro с возможностью работы в низком...

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Количественное определение 9-ти водорастворимых витаминов: витамины группы В: тиамин (В1), рибофлавин (В2), никотиновая кислота (РРк), никотинамид (РРа), пантотеновая кислота (В5), пиридоксин (В6), биотин (Н), фолиевая кислота (В9), цианокоболамин (В12)

11 000.00 ₽

Аминокислотный анализатор жидкостный хроматограф LC-20 Prominence, Shimadzu, ОФС.1.2.3.0017.15 Методы количественного определения витаминов

Количественное определение 9-ти водорастворимых витаминов: витамины группы В: тиамин (В1), рибофлавин (В2), никотиновая кислота (РРк), никотинамид (РРа), пантотеновая кислота (В5), пиридоксин (В6), биотин (Н), фолиевая кислота (В9), цианокоболамин (В12)

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Количественное определение аминокислотного состава в известном количестве белках, (ASP, THR, SER, GLU, GLY, ALA, VAL, MET, ILEU, LEU, PHE, TYR, LYS, AMMONIA, ARG)(аспаргиновая кислота, треонин, серин, глутаминовая кислота, пролин, глицин, аланин, цистеин,

8 200.00 ₽

Аминокислотный анализатор жидкостный хроматограф LC-20 Prominence, Shimadzu, ГОСТ 32195-2013 (ISO 13903:2005)

Количественное определение аминокислотного состава в известном количестве белках, (ASP, THR, SER, GLU, GLY, ALA, VAL, MET, ILEU, LEU, PHE, TYR, LYS, AMMONIA, ARG)(аспаргиновая кислота, треонин, серин, глутаминовая кислота, пролин, глицин, аланин, цистеин, валин, метионин, изолейцин, лейцин, тирозин, фенилаланин, гистидин, лизин, аммиак, аргинин) Аминокислотным анализатором LC-20 Prominence

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур на SEM микроскопе S-4800

18 000.00 ₽

Микроскоп электронный растровый S-4800, Научные исследования, HITACHI, 28123 ФР.1.27.2017.27749 Измерение линейных размеров элементов рельефа поверхности ступенчатой формы по вертикальной оси с использованием принципов фотограмметрии при помощи микроскопа электронного растрового S-4800 в диапазоне измерений линейных размеро

Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур.

Применяется в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии. Оснащен автоэмиссионным катодом холодного типа.

Микроскоп обеспечивает работу в режимах регистрации вторичных, отраженных электронов и в режиме «напросвет».

Основные технические характеристики

Разрешение при ускоряющем напряжении 15кВ
1нм

Разрешение при ускоряющем напряжении 1кВ
1,5 нм

Эффективный диаметр электронного зонда во вторичных электронах при 15кВ
не более 10 нм.

Диапазон регулировки увеличения
30¸800000 крат.

Диапазон измерения линейных размеров
0,02¸10000 мкм

Погрешность измерений линейных размеров не более
5 %.

Диапазон регулировки ускоряющего напряжения
0,1¸30 кВ

Производитель:
Hitachi, Япония

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Лабораторное исследование, получение нано- и микро-изображений, спектральный точечный тест на электронном сканирующем микроскопе JSM-6490LV

5 200.00 ₽

Микроскоп электронный сканирующий JSM-6490LV, Научные исследования, JEOL, 42452 ФР.1.27.2011.09314 Методика выполнения измерений размеров частиц и распределения частиц по размерам для неэлектропроводящих частиц с помощью растрового электронного микроскопа

Лабораторное исследование и получение изображения на электронный сканирующем микроскопе JSM-6490LV

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Нанесение токопроводящих покрытии для исследования образца методом электронной микроскопии

3 000.00 ₽

Система напыления токопроводящих покрытий для электронной микроскопии Q150T S Plus, TESCAN ORSAY HOLDING

Нанесение токопроводящих покрытии для исследования образца методом электронной микроскопии

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Определение антиоксидантной активности на приборе Цвет Яуза А01-АА

4 000.00 ₽

Измерительный комплекс для определения антиоксидантов в пищевых продуктах, напитках, биологически активных добавках, лекарственных препаратах и технических продуктах «ЦветЯуза-01-АА», Химавтоматика

Определение антиоксидантной активности на приборе Цвет Яуза А01-АА

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Определение содержания триптофана (TRP) методом ионообменной хроматографии с постколоночной дереватизацией нингидрином на Аминокислотном анализаторе LC-20 Prominence

2 400.00 ₽

Аминокислотный анализатор жидкостный хроматограф LC-20 Prominence, Shimadzu, ГОСТ 13496.21-2015

Определение триптофана (TRP) методом ионнообменной хроматографии с постколоночной дереватизацией нингидрином на Аминокислотном анализаторе LC-20 Prominence

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Определение элементного состава микроучастка поверхности на растровом электронном микроскопе с помощью приставок для волнодисперсионного или энергодисперсионного ренгенофлуоресцентного анализа

20 000.00 ₽

Растровый электронный микроскоп JEOL JSM-IT300LV, Научные исследования, JEOL

Определение элементного состава микроучастка поверхности на растровом электронном микроскопе с помощью приставок для волнодисперсионного или энергодисперсионного ренгенофлуоресцентного анализа

Кол-во:

+ −