Please sign in so that we can notify you about a reply
Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца по линии на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
Оборудование:
Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe
Порометр iPore1500:
Научные исследования
Производитель:
Thermo Fisher Scientific