Картирование элементного состава образца с использованием методики энергодисперсионной спектроскопии EDX с атомным разрешением по 3 областям на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором
Оборудование:
Просвечивающий (сканирующий) электронный микроскоп Titan Themis Z
Производитель:
Thermo Fisher Scientific