Please sign in so that we can notify you about a reply
Исследование физико-химических свойств поверхности нанообъектов и наноструктур с помощью современных методов зондовой микроскопии. Точность измерения перемещения (система сканирования) по вертикали 0,1 нм, в латеральном направлении – 1 нм.
Возможна работа в режиме АСМ и СТМ.
Возможность работы в контактном, прерывисто-контактном и бесконтактном режиме.
Производитель: ЗАО “НТ-МДТ”, Россия
Основные технические характеристики
Диффузионная длина (LD)
10 ÷ 2000 мкм при LD < t
Концентрация металла (Fe)
10⁹ ÷ 10¹³ см⁻³
Погрешность измерений:
15 ÷ 30 %
Методики измерений:
- ФР.1.27.2011.09319 Рекомендация «ГСИ. Метрические параметры поверхности. Методика выполнения измерений с помощью сканирующего зондового микроскопа Solver P47H»
- ФР.1.27.2009.06694 «Методика измерений шероховатости поверхности образцов методом атомно-силовой микроскопии» Шифр методики SOLVER