Определение элементного состава микроучастка поверхности на растровом электронном микроскопе с помощью приставок для волнодисперсионного или энергодисперсионного ренгенофлуоресцентного анализа

Описание лабораторного теста: 

Определение элементного состава микроучастка поверхности на растровом электронном микроскопе с помощью приставок для волнодисперсионного или энергодисперсионного ренгенофлуоресцентного анализа

Используемое аналитическое оборудование: 

Растровый электронный микроскоп JEOL JSM-IT300LV с энерго- и волнодисперсионным элементным анализаторами

Микроскопы электронные растровые JSM IT300x  предназначены для количественного морфологического анализа и измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур.

Назначение

• получение изображения поверхности с нанометровым разрешением;
• локальное определение состава широкого спектра химических соединений и материалов (керамики, сплавы, полимеры, биологические образцы).

Технические характеристики

• разрешение в режиме высокого вакуума: — 3,0 нм при ускоряющем напряжении 30кВ, — 15,0 нм при ускоряющем напряжении 1кВ;
• разрешение в режиме низкого вакуума: 4,0нм при ускоряющем напряжении 30 кВ;
• диапазон значений ускоряющего напряжения: от 300 В до 30 кВ;
• диапазон увеличений: от 5 до 300000 крат в пересчете на размер отпечатка 10 x 12 см.

Оснащен

• энергодисперсионным спектрометром (Oxford Inst.) — Пельтье-охлаждаемый (без использования жидкого азота), с площадью детектора 20 мм2, с энергетическим разрешением по Kα-линии марганца (ПШПВ) 127 эВ;
• cпектрометром с дисперсией по длинам волн (Oxford Inst.) — полностью фокусированный, с радиусом окружности Роуланда 210 мм и диапазоном углов 2-тета гониометра от 33 до 135 градусов;
• низковакуумным детектором вторичных электронов;
• шлюзом для загрузки образцов.