Определение степени кристалличности образца методом рентгеновской дифрактометрии

Описание лабораторного исследования и тестирования: Определение степени кристалличности образца методом рентгеновской дифрактометрии

Используемое оборудование Рентгеновский дифрактометр XRD-7000

Лаборатория ориентирована на рентгенофлуоресцентный элементный анализ твердых образцов в диапазоне от кислорода до урана, рентгеноструктурный анализ различных материалов.

Оборудование:

Рентгеновский дифрактометр XRD-7000

Производитель — Shimadzu (Япония)

Прибор позволяет производить фазовый анализ твердых образцов, изучать структуру и вещественный состав стройматериалов, минералов, фармпрепаратов, сталей и сплавов, бумаги и картона, определять степень кристалличности материалов. Предназначен для анализа порошковых образцов, волокон и тонких пленок.

Оптическая схема гониометра – θ-θ, минимальный шаг сканирования – 0,0002° (2θ) 0,0001° (θ), диапазон сканирования – от -6° до 132°. Рентгеновская трубка – с Cu мишенью, мощность 2 кВт. Установлена система поликапиллярной оптики и приставка для вращения образца. Детектор – сцинтилляционный, с монохроматором. Для идентификации кристаллических решеток имеется база данных ICDD PDF-2 2010 г.

Область применения — химия, геология, строительство, ЦБП, экология, физика, металлургия, нанотехнологии, фармацевтика, медицина. Используется для определения степени кристалличности, возможно определение степени ориентации волокон.