Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров

Описание лабораторного теста: Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров

Требования к образцам: до 3 шт

Используемое лабораторное оборудование: 

Лаборатория ориентирована на рентгенофлуоресцентный элементный анализ твердых образцов в диапазоне от кислорода до урана, рентгеноструктурный анализ различных материалов.

Оборудование:

Волнодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр Lab Center XRF-1800

Производитель — Shimadzu (Япония)

Предназначен для определения элементов от C до U в диапазоне содержаний от 1 мг/кг до 100%. Обеспечивает быстрый элементный анализ сплошных твердых образцов, порошков и жидкостей. Анализ может выполняться как методом калибровочных кривых, так и безэталонным методом фундаментальных параметров. Позволяет измерять толщину пленок и покрытий, выполнять картирование образца с шагом 0,5 мм.

Мощность рентгеновской трубки – 4 кВт, детекторы – сцинтилляционный и проточно-пропорциональный, 6 кристаллов-анализаторов с возможностью их смены во время анализа. Измерения могут выполняться в атмосфере воздуха, гелия или в вакууме.

Область применения — химия, экология, геология, изучение строительных материалов, металлургия, стекольная промышленность, целлюлозно-бумажная промышленность. Применяется для анализа состава растительного сырья, стекол, керамик, сталей и сплавов, ювелирных изделий; определения тяжелых металлов в почвах, наполнителей в бумагах, серы в нефтепродуктах.

Дата выпуска — 10.08.2011.