Войдите в учётную запись, чтобы мы могли сообщить вам об ответе
Возможные тесты на приборе
- Качественный и количественный фазовый анализ слоев в тонкопленочных структурах и дисперсных системах.
- Определение межплоскостных расстояний в кристаллических пленках в диапазоне линейных размеров от 0,004 до 10,000 нм.
- Определяемая массовая доля отдельной фазы 0,1-100,0%;
- Определение микро- и макронапряжений в тонкопленочных структурах.
- Модуль определяемых трехосных напряжений 0-400,0 МПа.
- Определение профиля деформации в многослойных тонкопленочных структурах с пространственным разрешением 10 нм;
- Определение преимущественной ориентации кристаллитов в тонких пленках в многослойных структурах.
Оборудование:
Дифрактометр рентгеновский многофункицональный SmartLab
Производитель:
Rigaku