Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S

Изучение морфологии, микроструктуры, размера частиц, толщины пленок, гетероструктур их элементного и фазового составов, кристаллографической ориентировки зерен.

14 000.00 
Цена в баллах: 14000 баллов
+

Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S. Изучение морфологии, микроструктуры, размера частиц, толщины пленок, гетероструктур их элементного и фазового составов, кристаллографической ориентировки зерен.

Оборудование:
Сканирующий электронный микроскоп Quattro S
Отрасль промышленности:
Научные исследования
Производитель:
Thermo Fisher Scientific