Исследование элементного состава образца на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме Quattro S
<!-- Yandex.Metrika counter -->
<script type="text/javascript" >
(function(m,e,t,r,i,k,a){m[i]=m[i]||function(){(m[i].a=m[i].a||[]).push(arguments)};
m[i].l=1*new Date();k=e.createElement(t),a=e.getElementsByTagName(t)[0],k.async=1,k.src=r,a.parentNode.insertBefore(k,a)})
(window, document, "script", "https://mc.yandex.ru/metrika/tag.js", "ym");
ym(85501045, "init", {
clickmap:true,
trackLinks:true,
accurateTrackBounce:true,
webvisor:true,
ecommerce:"dataLayer"
});
</script>
<!-- /Yandex.Metrika counter -->
© 2020 - 2024 Научно-Исследовательская Аналитическая Платформа LAB-TEST. Powered by Multi-Vendor - Shopping Cart Software
