Please sign in so that we can notify you about a reply
Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов
Оборудование:
Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe
Порометр iPore1500:
Научные исследования
Производитель:
Thermo Fisher Scientific