Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

34 000.00 
Price in points: 34000 points
+

Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

Оборудование:
Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe
Порометр iPore1500:
Научные исследования
Производитель:
Thermo Fisher Scientific