Войдите в учётную запись, чтобы мы могли сообщить вам об ответе
Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
Оборудование:
Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe
Отрасль промышленности:
Научные исследования
Производитель:
Thermo Fisher Scientific