Поиск

+7(495)661-61-09Пн-Пт: 9:00-18:00

Заказать обратный звонок

Главная/Каталог услуг/Научные аналитические исследования и тесты/Микроскопические тесты и исследования/Сканирующая электронная микроскопия/Изготовление и визуализация кросс секции на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

Изготовление и визуализация кросс секции на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

32 000.00 ₽

Цена в баллах: 32000 баллов

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Описание
Особенности
Теги

Изготовление и визуализация кросс секции на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM