Москва

Поиск

+7(495)661-61-09Пн-Пт: 9:00-18:00
Заказать обратный звонок

Элементы обозначенные тегом "измерение шероховатости":

Товары

Сортировать по алфавиту: от А до Я
50 На страницу
Исследование топографии поверхности с суб-нанометровым разрешением, исследование свойств поверхности, профилометрия на сканирующем атомно силовом микроскопе P100
6 000.00 ₽

Атомно силовой микроскоп P100/P150 обладает возможностью проводить сканирование образцов с субнанометровым разрешением по оси Z , микроскоп P100 / P150 может быть использован для получения и анализа изображений с высокой разрешающей способностью. Интегрированный сканер с низким уровнем шума и с открытым контуром позволяет быстро и эффективно проводить эксперименты на 15 мкм на 15 мкм. 

+ −
Купить в один клик