Москва

Поиск

+7(495)661-61-09Пн-Пт: 9:00-18:00
Заказать обратный звонок

Элементы обозначенные тегом "исследование поверхности":

Товары

Сортировать по алфавиту: от А до Я
50 На страницу
Анализ поверхности материалов и образцов методами оптической микроскопии на прямом микроскопе Carl Zeiss Axio Imager M2
4 000.00 ₽
Просмотр
Анализ топографии поверхности и получение 3D изображений образца на лазерном конфокальном сканирующем микроскопе Lasertech VL2000DX
12 000.00 ₽
Просмотр
Измерения линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведение локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком на микроскопе JIB-4500
20 000.00 ₽
Просмотр
Изучение морфологии и поверхности образца на сканирующем электронном микроскопе Quattro с низким вакуумом и детектором обратно рассеянных электронов
20 000.00 ₽
Просмотр
Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов
30 000.00 ₽
Просмотр
Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S
14 000.00 ₽
Просмотр
Исследование поверхности методами оптической микроскопии на универсальном микроскопе отраженного света Carl Zeiss Axioplan 2
2 000.00 ₽
Просмотр
Исследование топографии поверхности с суб-нанометровым разрешением, исследование свойств поверхности, профилометрия на сканирующем атомно силовом микроскопе P100
6 000.00 ₽
Просмотр
Исследование физико-химических свойств поверхности нанообъектов и наноструктур с помощью зондового микроскопа Solver P47H
19 000.00 ₽
Просмотр
Исследование физико-химических свойств поверхности нанообъектов и наноструктур, проведение АСМ и СТМ анализа образцов в жидкостях на сканирующей зондовой лаборатории NTEGRA AURA
19 000.00 ₽
Просмотр
Исследования и наблюдения образцов образцов очень небольшого размера в инфракрасном свете через ИК микроскоп HYPERION
4 000.00 ₽
Просмотр
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур на SEM микроскопе S-4800
18 000.00 ₽
Просмотр
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, элементный анализ от В до U на растровом электронном микроскопе JSM-6460LV и микроприставкой INCAX-SIGHT
18 000.00 ₽
Просмотр
Конфокальная лазерная микроскопия, предназначены для исследования различных твердых объектов в биологии, медицине, материаловедении в трехмерном изображении на сканирующем микроскопе LSM 5, Bruker
6 000.00 ₽
Просмотр