English
Русский
English
($)
($)
(₽)
(€)
(£)
Описание
О проекте
Зарегистрировать лабораторию
Лаборатории
Сотрудничество
Контакты
Москва
Мой профиль
Orders
Comparison list
Wish list
Track my order(s)
Track my order(s)
Sign in
Register
E-mail
Password
Forgot your password?
Register for a new account
Sign in
Remember me
Поиск
+7(495)
661-61-09
Mon-Fr 9a.m.-6p.m.
Request call
Cart is empty
Cart is empty
View cart
Checkout
Menu
Каталог услуг
Научные аналитические исследования и тесты
Спектральные исследования и анализы
Хроматографические тесты и исследования
Рентгеноструктурные анализы и тесты
Микроскопические тесты и исследования
Анализ пористости проницаемости
Профилометрия и топографический анализ
View more
→
Микробиологические исследования и анализы
Секвенирование
Цитофлуориметрия
Физико-механические испытания
Химические исследования и анализы
Медицинские анализы и тесты
Обработка материалов
Аренда оборудования
123456
Анализ алкоголя
Анализ воды
Анализ почвы
Анализы пищевых продуктов
Научные исследования
Анализ пластмассы
Измерение толщины
Исследование древесины
Анализ лакокрасочных материалов
Тесты и анализы металла
Химические исследования
Исследование порошков
Стандарты и методики
Каталог лабораторий
Каталог производителей
Каталог оборудования
Скидки
Home
/
Tags
/
Items marked by the "исследование поверхности" tag:
Items marked by the "исследование поверхности" tag:
Products
Sort by Price: Low to High
Newest Items First
Sort Alphabetically: A to Z
Sort Alphabetically: Z to A
Sort by Price: High to Low
Sort by Popularity
50 Per Page
12 Per Page
24 Per Page
48 Per Page
96 Per Page
Исследование поверхности методами оптической микроскопии на универсальном микроскопе отраженного света Carl Zeiss Axioplan 2
$
26.45
Quick view
Анализ поверхности материалов и образцов методами оптической микроскопии на прямом микроскопе Carl Zeiss Axio Imager M2
$
52.90
Quick view
Исследования и наблюдения образцов образцов очень небольшого размера в инфракрасном свете через ИК микроскоп HYPERION
$
52.90
Quick view
Конфокальная лазерная микроскопия, предназначены для исследования различных твердых объектов в биологии, медицине, материаловедении в трехмерном изображении на сканирующем микроскопе LSM 5, Bruker
$
79.35
Quick view
Исследование топографии поверхности с суб-нанометровым разрешением, исследование свойств поверхности, профилометрия на сканирующем атомно силовом микроскопе P100
$
79.35
Quick view
Анализ топографии поверхности и получение 3D изображений образца на лазерном конфокальном сканирующем микроскопе Lasertech VL2000DX
$
158.70
Quick view
Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S
$
185.15
Quick view
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур на SEM микроскопе S-4800
$
238.05
Quick view
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, элементный анализ от В до U на растровом электронном микроскопе JSM-6460LV и микроприставкой INCAX-SIGHT
$
238.05
Quick view
Исследование физико-химических свойств поверхности нанообъектов и наноструктур с помощью зондового микроскопа Solver P47H
$
251.27
Quick view
Исследование физико-химических свойств поверхности нанообъектов и наноструктур, проведение АСМ и СТМ анализа образцов в жидкостях на сканирующей зондовой лаборатории NTEGRA AURA
$
251.27
Quick view
Измерения линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведение локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком на микроскопе JIB-4500
$
264.50
Quick view
Изучение морфологии и поверхности образца на сканирующем электронном микроскопе Quattro с низким вакуумом и детектором обратно рассеянных электронов
$
264.50
Quick view
Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов
$
396.75
Quick view