Поиск

+7(495)661-61-09Пн-Пт: 9:00-18:00

Заказать обратный звонок

Главная/Теги/Элементы обозначенные тегом "метод фундаментальных параметров":

Элементы обозначенные тегом "метод фундаментальных параметров":

Товары

Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров

$391.46

Последовательный рентгенофлуоресцентный волнодисперсионный спектрометр Shimadzu Lab Center XRF-1800, Научные исследования, Shimadzu

Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров

Кол-во:

+ −

Купить в один клик