Русский
Русский
English
(£)
($)
(₽)
(€)
(£)
Описание
Сотрудничество
Зарегистрировать лабораторию
Блог
Доставка
Контакты
Москва
Мой профиль
Заказы
Список сравнения
Отложенные товары
Отслеживание заказа
Отслеживание заказа
Войти
Регистрация
E-mail
Пароль
Забыли пароль?
Создать учетную запись
Войти
Запомнить
Поиск
+7(495)
661-61-09
Пн-Пт: 9:00-18:00
Заказать обратный звонок
Корзина пуста
Корзина пуста
Корзина
Оформить заказ
Меню
Каталог тестов
Научные аналитические исследования и тесты
Спектральные исследования и анализы
Хроматографические тесты и исследования
Рентгеноструктурные анализы и тесты
Микроскопические тесты и исследования
Анализ пористости проницаемости
Профилометрия и топографический анализ
Больше
→
Микробиологические исследования и анализы
Секвенирование
Цитофлуорометрия
Физико-механические испытания
Физико-химические исследования и анализы
Медицинские анализы и тесты
Обработка материалов
Аренда оборудования
Типы анализов
Анализ алкоголя
Анализ воды
Анализ почвы
Анализы пищевых продуктов
Научные исследования
Анализ пластмасс и полимеров
Измерение толщины
Исследование древесины
Анализ лакокрасочных материалов
Тесты и анализы металла
Химические исследования
Исследование порошков
Стандарты и методики
Каталог лабораторий
Каталог производителей
Каталог оборудования
Заявка
Главная
/
Теги
/
Элементы обозначенные тегом "тест на SEM":
Элементы обозначенные тегом "тест на SEM":
Товары
Сортировать по цене: дешевые выше
Сортировать по времени: новинки выше
Сортировать по алфавиту: от А до Я
Сортировать по алфавиту: от Я до А
Сортировать по цене: дорогие выше
Сортировать по популярности: по убыванию
24 На страницу
12 На страницу
48 На страницу
50 На страницу
96 На страницу
Лабораторное исследование, получение нано- и микро-изображений, спектральный точечный тест на электронном сканирующем микроскопе JSM-6490LV
£
51.45
Просмотр
Сканирующий тест, анализ топографии поверхности и под-поверхности, проведение 3D исследования на электронном двухлучевом микроxскопе Quanta 3D FEG
£
71.23
Просмотр
Аренда сканирующего электронного микроскопа Quattro S с возможностью работы в низком вакууме (с оператором ЦКП) за час
£
89.04
Просмотр
Получение снимка поверхности на SEM растровом электронном микроскопе
£
89.04
Просмотр
Исследование морфологии поверхности на SEM сканирующем электронном микроскопе
£
89.04
Просмотр
Исследование поверхности, исследование топографии микро- и нанообъектов на сканирующем электронном микроскопе Philips SEM515
£
96.96
Просмотр
Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S
£
138.51
Просмотр
Аренда двухлучевого сканирующего электронного микроскопа Helios G4 Plasma FIB Uxe (с оператором ЦКП) за час
£
158.30
Просмотр
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур на SEM микроскопе S-4800
£
178.09
Просмотр
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, элементный анализ от В до U на растровом электронном микроскопе JSM-6460LV и микроприставкой INCAX-SIGHT
£
178.09
Просмотр
Измерения линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведение локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком на микроскопе JIB-4500
£
197.87
Просмотр
Изучение морфологии и поверхности образца на сканирующем электронном микроскопе Quattro с низким вакуумом и детектором обратно рассеянных электронов
£
197.87
Просмотр
Определение элементного состава микроучастка поверхности на растровом электронном микроскопе с помощью приставок для волнодисперсионного или энергодисперсионного ренгенофлуоресцентного анализа
£
197.87
Просмотр
Изготовление и визуализация кросс секции на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
£
316.60
Просмотр
Страницы
Исследования и тесты на SEM сканирующем электронном микроскопе