Русский
Русский
English
(₽)
($)
(₽)
(€)
(£)
Описание
Сотрудничество
Зарегистрировать лабораторию
Блог
Доставка
Контакты
Москва
Мой профиль
Заказы
Список сравнения
Отложенные товары
Отслеживание заказа
Отслеживание заказа
Войти
Регистрация
E-mail
Пароль
Забыли пароль?
Создать учетную запись
Войти
Запомнить
Поиск
+7(495)
661-61-09
Пн-Пт: 9:00-18:00
Заказать обратный звонок
Корзина пуста
Корзина пуста
Корзина
Оформить заказ
Меню
Каталог тестов
Научные аналитические исследования и тесты
Спектральные исследования и анализы
Хроматографические тесты и исследования
Рентгеноструктурные анализы и тесты
Микроскопические тесты и исследования
Анализ пористости проницаемости
Профилометрия и топографический анализ
Больше
→
Микробиологические исследования и анализы
Секвенирование
Цитофлуорометрия
Физико-механические испытания
Физико-химические исследования и анализы
Медицинские анализы и тесты
Обработка материалов
Аренда оборудования
Типы анализов
Анализ алкоголя
Анализ воды
Анализ почвы
Анализы пищевых продуктов
Научные исследования
Анализ пластмасс и полимеров
Измерение толщины
Исследование древесины
Анализ лакокрасочных материалов
Тесты и анализы металла
Химические исследования
Исследование порошков
Стандарты и методики
Каталог лабораторий
Каталог производителей
Каталог оборудования
Заявка
Главная
/
Теги
/
Элементы обозначенные тегом "элементный анализ":
Элементы обозначенные тегом "элементный анализ":
Товары
Сортировать по алфавиту: от А до Я
Сортировать по времени: новинки выше
Сортировать по алфавиту: от Я до А
Сортировать по цене: дешевые выше
Сортировать по цене: дорогие выше
Сортировать по популярности: по убыванию
50 На страницу
12 На страницу
24 На страницу
48 На страницу
96 На страницу
Анализ воды из колодца по 16 показателям: ph, мутность, перманганатная окисляемость, сухой остаток, УЭП, цветность и др.
5 100.00
₽
Просмотр
Аренда двухлучевого сканирующего электронного микроскопа Helios G4 Plasma FIB Uxe (с оператором ЦКП) за час
16 000.00
₽
Просмотр
Выполнение спектрального анализа Al, Ba, Bi, Cr элементов в твердых пробах на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
69 000.00
₽
Просмотр
Выполнение спектрального анализа Ca, Mg элементов в твердых пробах на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
46 000.00
₽
Просмотр
Выполнение спектрального анализа Cd, Co , Cu, Fe, Mn, Ni, Pb, Zn элементов в твердых пробах на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
69 000.00
₽
Просмотр
Выполнение спектрального анализа K, Li, Na, Sr элементов в твердых пробах на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
69 000.00
₽
Просмотр
Выполнение спектрального анализа одного элемента на выбор в твердых пробах на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
46 000.00
₽
Просмотр
Выполнение спектрального анализа одного элемента на выбор в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
28 000.00
₽
Просмотр
Выполнение спектрального анализа элементов Al, В, Вi, Cd, Co, Cr, Cu, Mn, Ni, Pb, Zn в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
45 000.00
₽
Просмотр
Выполнение спектрального анализа элементов Ba, Ca, Fe, Li, Mg, Sr в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
45 000.00
₽
Просмотр
Выполнение спектрального анализа элементов Ga, In, Tl в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
32 000.00
₽
Просмотр
Выполнение спектрального анализа элементов K, Na в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
32 000.00
₽
Просмотр
Изучение морфологии и поверхности образца на сканирующем электронном микроскопе Quattro с низким вакуумом и детектором обратно рассеянных электронов
20 000.00
₽
Просмотр
Исследование молекулярного примесного и элементного состава высокочистых веществ посредством ИК-Фурье спектрометра Bruker Tensor 27
4 000.00
₽
Просмотр
Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S
14 000.00
₽
Просмотр
Исследование оптических параметров полупроводниковых материалов на ИК-Фурье спектрометре высокого разрешения Bruker IFS-113v
4 000.00
₽
Просмотр
Исследование примесного состава газо- и жидкофазных систем методом ИК-фурье-спектроскопии высокого разрешения на приборе Bruker IFS-125HR
6 000.00
₽
Просмотр
Исследование элементного анализа концентраций матричного состава посредством атомно-абсорбционного спектрометра Carl Zeiss AAS-3
6 000.00
₽
Просмотр
Исследование элементного состава высокочистых веществ и материалов методами атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой на приборе Thermo iCAP 6300 Duo
10 000.00
₽
Просмотр
Исследование элементного состава образца на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме Quattro S
14 000.00
₽
Просмотр
Исследование элементного состава образца с картированием по 3 областям на сканирующем электронном микроскопе Quattro с возможностью работы в низком вакууме
24 000.00
₽
Просмотр
Картирование элементного состава образца с использованием методики энергодисперсионной спектроскопии EDX с атомным разрешением по 3 областям на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором
145 000.00
₽
Просмотр
Качественные анализы и количественные измерения химического и элементного состава органических и неорганических веществ на хромато-масс-спектрометре GCMS-QP2010 Ultra
5 000.00
₽
Просмотр
Количественное определение хлора в образцах с помощью элементного анализатора MultiEA-5000 (5 комплектов образцов)
30 000.00
₽
Просмотр
Количественный CHNOS-элементный анализ твердых и жидких органических соединений
19 000.00
₽
Просмотр
Количественный CHNS-элементный анализ твердых и жидких органических соединений
12 000.00
₽
Просмотр
Количественный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии
24 000.00
₽
Просмотр
Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров
29 600.00
₽
Просмотр
Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров
24 000.00
₽
Просмотр
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур на SEM микроскопе S-4800
18 000.00
₽
Просмотр
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, элементный анализ от В до U на растровом электронном микроскопе JSM-6460LV и микроприставкой INCAX-SIGHT
18 000.00
₽
Просмотр
Лабораторное тестирование токсичных элементов в пищевой продукции и продовольственном сырье
6 800.00
₽
Просмотр
Определение концентрации одного элемента в жидкой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой
34 500.00
₽
Просмотр
Определение концентрации одного элемента в твердой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой
35 500.00
₽
Просмотр
Определение молекулярного примесного состава высокочистых летучих веществ и исследование примесей газо- жидкофазных систем на ИК-Фурье спектрометре высокого разрешения Thermo Nicolet 6700
6 000.00
₽
Просмотр
Определение общего органического углерода с помощью элементного анализатора MultiEA-5000 (5 комплектов образцов)
20 000.00
₽
Просмотр
Определение элементного состава примесей чистых материалов на ИК-Фурье спектрометре Shimadzu IR Prestige-21
6 400.00
₽
Просмотр
Проведение анализа элементного состава твердых и жидких образцов, количественный и качественный анализ вещества рентгенофлуоресцентным спектрометром EDX3600
4 000.00
₽
Просмотр
Проведение полного элементного анализа и измерение концентраций химических элементов на рентгенофлуоресцентном спектрометре ARL OPTIM’X
6 000.00
₽
Просмотр
Проведение спектрального элементного анализа одного элемента в жидкой пробе на атомно-абсорбционном спектрометре со сжиганием в печи (комплект из 5 образцов)
10 000.00
₽
Просмотр
Проведение спектрального элементного анализа одного элемента в жидкой пробе на атомно-абсорбционном спектрометре со сжиганием в пламени (комплект из 5 образцов)
8 500.00
₽
Просмотр
Проведение спектрального элементного анализа одного элемента в твердой пробе на атомно-абсорбционном спектрометре со сжиганием в пламени (комплект из 5 образцов)
10 000.00
₽
Просмотр
Проведение спектрального элементного анализа одного элемента твердой пробы на атомно-абсорбционном спектрометре со сжиганием в печи (комплект из 5 образцов)
13 000.00
₽
Просмотр
Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
34 000.00
₽
Просмотр
Рентгенофлуоресцентный спектральный выездной анализ металлов, руд, почв на портативном переносном рентгеновском спектрометре Explorer Skyray Instrument
12 000.00
₽
Просмотр
Элементный CHNS анализ твердых проб (5 комплектов образцов)
15 000.00
₽
Просмотр
Элементный анализ жидких проб (CNS) (5 комплектов образцов)
15 000.00
₽
Просмотр
Элементный анализ микрообъектов с использованием метода сканирующей электронной микроскопии
15 950.00
₽
Просмотр
Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
62 000.00
₽
Просмотр