Элементы обозначенные тегом "элементный анализ":

Картирование элементного состава образца с использованием методики энергодисперсионной спектроскопии EDX с атомным разрешением по 3 областям на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором

145 000.00 ₽

Просвечивающий (сканирующий) электронный микроскоп Titan Themis Z, Thermo Fisher Scientific

Картирование элементного состава образца с использованием методики энергодисперсионной спектроскопии EDX с атомным разрешением по 3 областям на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Выполнение спектрального анализа Al, Ba, Bi, Cr элементов в твердых пробах на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)

69 000.00 ₽

Атомно-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой ICPE-9000, Анализ почвы, Shimadzu

Выполнение спектрального анализа Al, Ba, Bi, Cr элементов в твердых пробах на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Выполнение спектрального анализа K, Li, Na, Sr элементов в твердых пробах на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)

69 000.00 ₽

Атомно-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой ICPE-9000, Анализ почвы, Shimadzu

Выполнение спектрального анализа K, Li, Na, Sr элементов в твердых пробах на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Выполнение спектрального анализа Cd, Co , Cu, Fe, Mn, Ni, Pb, Zn элементов в твердых пробах на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)

69 000.00 ₽

Атомно-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой ICPE-9000, Анализ почвы, Shimadzu

Выполнение спектрального анализа Cd, Co , Cu, Fe, Mn, Ni, Pb, Zn элементов в твердых пробах на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM

62 000.00 ₽

Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Выполнение спектрального анализа Ca, Mg элементов в твердых пробах на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)

46 000.00 ₽

Атомно-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой ICPE-9000, Анализ почвы, Shimadzu

Выполнение спектрального анализа Ca, Mg элементов в твердых пробах на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Выполнение спектрального анализа одного элемента на выбор в твердых пробах на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)

46 000.00 ₽

Атомно-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой ICPE-9000, Анализ почвы, Shimadzu

Выполнение спектрального анализа одного элемента на выбор в твердых пробах на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Выполнение спектрального анализа элементов Al, В, Вi, Cd, Co, Cr, Cu, Mn, Ni, Pb, Zn в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)

45 000.00 ₽

Атомно-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой ICPE-9000, Анализ воды , Shimadzu

Выполнение спектрального анализа элементов Al, В, Вi, Cd, Co, Cr, Cu, Mn, Ni, Pb, Zn в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)

Кол-во:

+ −