Русский
Русский
English
(₽)
($)
(₽)
(€)
(£)
Описание
Сотрудничество
Зарегистрировать лабораторию
Блог
Доставка
Контакты
Москва
Мой профиль
Заказы
Список сравнения
Отложенные товары
Отслеживание заказа
Отслеживание заказа
Войти
Регистрация
E-mail
Пароль
Забыли пароль?
Создать учетную запись
Войти
Запомнить
Поиск
+7(495)
661-61-09
Пн-Пт: 9:00-18:00
Заказать обратный звонок
Корзина пуста
Корзина пуста
Корзина
Оформить заказ
Меню
Каталог тестов
Научные аналитические исследования и тесты
Спектральные исследования и анализы
Хроматографические тесты и исследования
Рентгеноструктурные анализы и тесты
Микроскопические тесты и исследования
Анализ пористости проницаемости
Профилометрия и топографический анализ
Больше
→
Микробиологические исследования и анализы
Секвенирование
Цитофлуорометрия
Физико-механические испытания
Физико-химические исследования и анализы
Медицинские анализы и тесты
Обработка материалов
Аренда оборудования
Типы анализов
Анализ алкоголя
Анализ воды
Анализ почвы
Анализы пищевых продуктов
Научные исследования
Анализ пластмасс и полимеров
Измерение толщины
Исследование древесины
Анализ лакокрасочных материалов
Тесты и анализы металла
Химические исследования
Исследование порошков
Стандарты и методики
Каталог лабораторий
Каталог производителей
Каталог оборудования
Заявка
Главная
/
Теги
/
Элементы обозначенные тегом "элементный анализ":
Элементы обозначенные тегом "элементный анализ":
Товары
Сортировать по популярности: по убыванию
Сортировать по времени: новинки выше
Сортировать по алфавиту: от А до Я
Сортировать по алфавиту: от Я до А
Сортировать по цене: дешевые выше
Сортировать по цене: дорогие выше
24 На страницу
12 На страницу
48 На страницу
50 На страницу
96 На страницу
Рентгенофлуоресцентный спектральный выездной анализ металлов, руд, почв на портативном переносном рентгеновском спектрометре Explorer Skyray Instrument
12 000.00
₽
Просмотр
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур на SEM микроскопе S-4800
18 000.00
₽
Просмотр
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, элементный анализ от В до U на растровом электронном микроскопе JSM-6460LV и микроприставкой INCAX-SIGHT
18 000.00
₽
Просмотр
Аренда двухлучевого сканирующего электронного микроскопа Helios G4 Plasma FIB Uxe (с оператором ЦКП) за час
16 000.00
₽
Просмотр
Исследование оптических параметров полупроводниковых материалов на ИК-Фурье спектрометре высокого разрешения Bruker IFS-113v
4 000.00
₽
Просмотр
Исследование молекулярного примесного и элементного состава высокочистых веществ посредством ИК-Фурье спектрометра Bruker Tensor 27
4 000.00
₽
Просмотр
Исследование элементного анализа концентраций матричного состава посредством атомно-абсорбционного спектрометра Carl Zeiss AAS-3
6 000.00
₽
Просмотр
Определение молекулярного примесного состава высокочистых летучих веществ и исследование примесей газо- жидкофазных систем на ИК-Фурье спектрометре высокого разрешения Thermo Nicolet 6700
6 000.00
₽
Просмотр
Исследование примесного состава газо- и жидкофазных систем методом ИК-фурье-спектроскопии высокого разрешения на приборе Bruker IFS-125HR
6 000.00
₽
Просмотр
Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S
14 000.00
₽
Просмотр
Исследование элементного состава высокочистых веществ и материалов методами атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой на приборе Thermo iCAP 6300 Duo
10 000.00
₽
Просмотр
Проведение анализа элементного состава твердых и жидких образцов, количественный и качественный анализ вещества рентгенофлуоресцентным спектрометром EDX3600
4 000.00
₽
Просмотр
Качественные анализы и количественные измерения химического и элементного состава органических и неорганических веществ на хромато-масс-спектрометре GCMS-QP2010 Ultra
5 000.00
₽
Просмотр
Определение элементного состава примесей чистых материалов на ИК-Фурье спектрометре Shimadzu IR Prestige-21
6 400.00
₽
Просмотр
Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
62 000.00
₽
Просмотр
Проведение полного элементного анализа и измерение концентраций химических элементов на рентгенофлуоресцентном спектрометре ARL OPTIM’X
6 000.00
₽
Просмотр
Анализ воды из колодца по 16 показателям: ph, мутность, перманганатная окисляемость, сухой остаток, УЭП, цветность и др.
5 100.00
₽
Просмотр
Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
34 000.00
₽
Просмотр
Изучение морфологии и поверхности образца на сканирующем электронном микроскопе Quattro с низким вакуумом и детектором обратно рассеянных электронов
20 000.00
₽
Просмотр
Количественное определение хлора в образцах с помощью элементного анализатора MultiEA-5000 (5 комплектов образцов)
30 000.00
₽
Просмотр
Исследование элементного состава образца с картированием по 3 областям на сканирующем электронном микроскопе Quattro с возможностью работы в низком вакууме
24 000.00
₽
Просмотр
Исследование элементного состава образца на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме Quattro S
14 000.00
₽
Просмотр
Картирование элементного состава образца с использованием методики энергодисперсионной спектроскопии EDX с атомным разрешением по 3 областям на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором
145 000.00
₽
Просмотр
Элементный CHNS анализ твердых проб (5 комплектов образцов)
15 000.00
₽
Просмотр
Назад
1
2
3
Вперед