Русский
Русский
English
(₽)
($)
(₽)
(€)
(£)
Описание
Сотрудничество
Зарегистрировать лабораторию
Блог
Доставка
Контакты
Москва
Мой профиль
Заказы
Список сравнения
Отложенные товары
Отслеживание заказа
Отслеживание заказа
Войти
Регистрация
E-mail
Пароль
Забыли пароль?
Создать учетную запись
Войти
Запомнить
Поиск
+7(495)
661-61-09
Пн-Пт: 9:00-18:00
Заказать обратный звонок
Корзина пуста
Корзина пуста
Корзина
Оформить заказ
Меню
Каталог тестов
Научные аналитические исследования и тесты
Спектральные исследования и анализы
Хроматографические тесты и исследования
Рентгеноструктурные анализы и тесты
Микроскопические тесты и исследования
Анализ пористости проницаемости
Профилометрия и топографический анализ
Больше
→
Микробиологические исследования и анализы
Секвенирование
Цитофлуорометрия
Физико-механические испытания
Физико-химические исследования и анализы
Медицинские анализы и тесты
Обработка материалов
Аренда оборудования
Типы анализов
Анализ алкоголя
Анализ воды
Анализ почвы
Анализы пищевых продуктов
Научные исследования
Анализ пластмасс и полимеров
Измерение толщины
Исследование древесины
Анализ лакокрасочных материалов
Тесты и анализы металла
Химические исследования
Исследование порошков
Стандарты и методики
Каталог лабораторий
Каталог производителей
Каталог оборудования
Заявка
Главная
/
Теги
/
Элементы обозначенные тегом "элементный анализ":
Элементы обозначенные тегом "элементный анализ":
Товары
Сортировать по популярности: по убыванию
Сортировать по времени: новинки выше
Сортировать по алфавиту: от А до Я
Сортировать по алфавиту: от Я до А
Сортировать по цене: дешевые выше
Сортировать по цене: дорогие выше
12 На страницу
24 На страницу
48 На страницу
50 На страницу
96 На страницу
Рентгенофлуоресцентный спектральный выездной анализ металлов, руд, почв на портативном переносном рентгеновском спектрометре Explorer Skyray Instrument
КОД:
12 000.00
₽
+
−
В корзину
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур на SEM микроскопе S-4800
КОД:
18 000.00
₽
+
−
В корзину
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, элементный анализ от В до U на растровом электронном микроскопе JSM-6460LV и микроприставкой INCAX-SIGHT
КОД:
18 000.00
₽
+
−
В корзину
Аренда двухлучевого сканирующего электронного микроскопа Helios G4 Plasma FIB Uxe (с оператором ЦКП) за час
КОД:
16 000.00
₽
+
−
В корзину
Исследование оптических параметров полупроводниковых материалов на ИК-Фурье спектрометре высокого разрешения Bruker IFS-113v
КОД:
4 000.00
₽
+
−
В корзину
Исследование молекулярного примесного и элементного состава высокочистых веществ посредством ИК-Фурье спектрометра Bruker Tensor 27
КОД:
4 000.00
₽
+
−
В корзину
Исследование элементного анализа концентраций матричного состава посредством атомно-абсорбционного спектрометра Carl Zeiss AAS-3
КОД:
6 000.00
₽
+
−
В корзину
Проведение анализа элементного состава твердых и жидких образцов, количественный и качественный анализ вещества рентгенофлуоресцентным спектрометром EDX3600
КОД:
4 000.00
₽
+
−
В корзину
Исследование элементного состава высокочистых веществ и материалов методами атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой на приборе Thermo iCAP 6300 Duo
КОД:
10 000.00
₽
+
−
В корзину
Определение молекулярного примесного состава высокочистых летучих веществ и исследование примесей газо- жидкофазных систем на ИК-Фурье спектрометре высокого разрешения Thermo Nicolet 6700
КОД:
6 000.00
₽
+
−
В корзину
Определение элементного состава примесей чистых материалов на ИК-Фурье спектрометре Shimadzu IR Prestige-21
КОД:
6 400.00
₽
+
−
В корзину
Исследование примесного состава газо- и жидкофазных систем методом ИК-фурье-спектроскопии высокого разрешения на приборе Bruker IFS-125HR
КОД:
6 000.00
₽
+
−
В корзину
Назад
1
2
3
4
5
Вперед