Москва

Поиск

+7(495)661-61-09Пн-Пт: 9:00-18:00
Заказать обратный звонок

Элементы обозначенные тегом "элементный анализ":

Товары

Сортировать по цене: дорогие выше
24 На страницу
Картирование элементного состава образца с использованием методики энергодисперсионной спектроскопии EDX с атомным разрешением по 3 областям на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором
145 000.00 ₽

Картирование элементного состава образца с использованием методики энергодисперсионной спектроскопии EDX с атомным разрешением по 3 областям на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором

+ −
Купить в один клик
Выполнение спектрального анализа Al, Ba, Bi, Cr элементов в твердых пробах на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
69 000.00 ₽

Выполнение спектрального анализа Al, Ba, Bi, Cr элементов в твердых пробах на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов) 

+ −
Купить в один клик
Выполнение спектрального анализа K, Li, Na, Sr элементов в твердых пробах на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
69 000.00 ₽

Выполнение спектрального анализа K, Li, Na, Sr элементов в твердых пробах на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)

+ −
Купить в один клик
Выполнение спектрального анализа Cd, Co , Cu, Fe, Mn, Ni, Pb, Zn элементов в твердых пробах на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
69 000.00 ₽

Выполнение спектрального анализа Cd, Co , Cu, Fe, Mn, Ni, Pb, Zn элементов в твердых пробах на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)

+ −
Купить в один клик
Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
62 000.00 ₽

Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM

+ −
Купить в один клик
Выполнение спектрального анализа Ca, Mg элементов в твердых пробах на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
46 000.00 ₽

Выполнение спектрального анализа Ca, Mg элементов в твердых пробах на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов) 

+ −
Купить в один клик
Выполнение спектрального анализа одного элемента на выбор в твердых пробах на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
46 000.00 ₽

Выполнение спектрального анализа одного элемента на  выбор в твердых пробах на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов) 

+ −
Купить в один клик
Выполнение спектрального анализа элементов Al, В, Вi, Cd, Co, Cr, Cu, Mn, Ni, Pb, Zn в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
45 000.00 ₽

Выполнение спектрального анализа элементов Al, В, Вi, Cd, Co, Cr, Cu, Mn, Ni, Pb, Zn в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)

+ −
Купить в один клик
Выполнение спектрального анализа элементов Ba, Ca, Fe, Li, Mg, Sr в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
45 000.00 ₽

Выполнение спектрального анализа элементов Ba, Ca, Fe, Li, Mg, Sr в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов) 

+ −
Купить в один клик
Определение концентрации одного элемента в твердой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой
35 500.00 ₽

Определение концентрации одного элемента в твердой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой

+ −
Купить в один клик
Определение концентрации одного элемента в жидкой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой
34 500.00 ₽

Определение концентрации одного элемента в жидкой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой

+ −
Купить в один клик
Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
34 000.00 ₽

Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

+ −
Купить в один клик
Выполнение спектрального анализа элементов K, Na в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
32 000.00 ₽

Выполнение спектрального анализа элементов K, Na в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)

+ −
Купить в один клик
Выполнение спектрального анализа элементов Ga, In, Tl в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
32 000.00 ₽

Выполнение спектрального анализа элементов Ga, In, Tl в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов) 

+ −
Купить в один клик
Количественное определение хлора в образцах с помощью элементного анализатора MultiEA-5000 (5 комплектов образцов)
30 000.00 ₽

Количественное определение хлора в образцах с помощью элементного анализатора MultiEA-5000 (5 комплектов образцов)

+ −
Купить в один клик
Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров
29 600.00 ₽

Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров

+ −
Купить в один клик
Выполнение спектрального анализа одного элемента на выбор в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
28 000.00 ₽

Выполнение спектрального анализа одного элемента на выбор в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)

+ −
Купить в один клик
Исследование элементного состава образца с картированием по 3 областям на сканирующем электронном микроскопе Quattro с возможностью работы в низком вакууме
24 000.00 ₽
Исследование элементного состава образца с картированием по 3 областям на сканирующем электронном микроскопе Quattro  с возможностью работы в низком...
+ −
Купить в один клик
Количественный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии
24 000.00 ₽

Количественный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии

+ −
Купить в один клик
Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров
24 000.00 ₽

Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров

+ −
Купить в один клик
Изучение морфологии и поверхности образца на сканирующем электронном микроскопе Quattro с низким вакуумом и детектором обратно рассеянных электронов
20 000.00 ₽

Изучение морфологии, микроструктуры, размера частиц, толщины пленок, гетероструктур их элементного и фазового составов, кристаллографической ориентировки зерен

+ −
Купить в один клик
Определение общего органического углерода с помощью элементного анализатора MultiEA-5000 (5 комплектов образцов)
20 000.00 ₽

Определение общего органического углерода с помощью элементного анализатора MultiEA-5000 (5 комплектов образцов)

+ −
Купить в один клик
Количественный CHNOS-элементный анализ твердых и жидких органических соединений
19 000.00 ₽

Количественный CHNOS-элементный анализ твердых и жидких органических соединений

+ −
Купить в один клик
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур на SEM микроскопе S-4800
18 000.00 ₽

Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур.

Применяется в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии. Оснащен автоэмиссионным катодом холодного типа.

Микроскоп обеспечивает работу в режимах регистрации вторичных,  отраженных электронов и в режиме «напросвет».

Основные технические характеристики

Разрешение при ускоряющем напряжении 15кВ   
1нм

Разрешение при ускоряющем напряжении 1кВ
1,5 нм

Эффективный диаметр электронного зонда во вторичных электронах при 15кВ
не более 10 нм.

Диапазон регулировки увеличения
30¸800000 крат.

Диапазон измерения линейных размеров
0,02¸10000 мкм

Погрешность измерений линейных размеров не более
5 %.

Диапазон регулировки ускоряющего напряжения
0,1¸30 кВ

Производитель:
Hitachi, Япония

+ −
Купить в один клик
 Назад
1 2 3
Вперед