English
Русский
English
(₽)
($)
(₽)
(€)
(£)
Описание
О проекте
Зарегистрировать лабораторию
Лаборатории
Сотрудничество
Контакты
Москва
Мой профиль
Orders
Comparison list
Wish list
Track my order(s)
Track my order(s)
Sign in
Register
E-mail
Password
Forgot your password?
Register for a new account
Sign in
Remember me
Поиск
+7(495)
661-61-09
Mon-Fr 9a.m.-6p.m.
Request call
Cart is empty
Cart is empty
View cart
Checkout
Menu
Каталог услуг
Научные аналитические исследования и тесты
Спектральные исследования и анализы
Хроматографические тесты и исследования
Рентгеноструктурные анализы и тесты
Микроскопические тесты и исследования
Анализ пористости проницаемости
Профилометрия и топографический анализ
View more
→
Микробиологические исследования и анализы
Секвенирование
Цитофлуориметрия
Физико-механические испытания
Химические исследования и анализы
Медицинские анализы и тесты
Обработка материалов
Аренда оборудования
123456
Анализ алкоголя
Анализ воды
Анализ почвы
Анализы пищевых продуктов
Научные исследования
Анализ пластмассы
Измерение толщины
Исследование древесины
Анализ лакокрасочных материалов
Тесты и анализы металла
Химические исследования
Исследование порошков
Стандарты и методики
Каталог лабораторий
Каталог производителей
Каталог оборудования
Скидки
Home
/
Tags
/
Items marked by the "SEM анализ" tag:
Items marked by the "SEM анализ" tag:
Products
Sort Alphabetically: Z to A
Newest Items First
Sort Alphabetically: A to Z
Sort by Price: Low to High
Sort by Price: High to Low
Sort by Popularity
50 Per Page
12 Per Page
24 Per Page
48 Per Page
96 Per Page
Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
CODE:
62 000.00
₽
+
−
Add to cart
Сканирующий тест, анализ топографии поверхности и под-поверхности, проведение 3D исследования на электронном двухлучевом микроxскопе Quanta 3D FEG
CODE:
7 200.00
₽
+
−
Add to cart
Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
CODE:
34 000.00
₽
+
−
Add to cart
Получение изображения поверхности образца методом сканирующей электронной микроскопии [CLONE]
CODE:
15 950.00
₽
+
−
Add to cart
Лабораторное исследование, получение нано- и микро-изображений, спектральный точечный тест на электронном сканирующем микроскопе JSM-6490LV
CODE:
5 200.00
₽
+
−
Add to cart
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, элементный анализ от В до U на растровом электронном микроскопе JSM-6460LV и микроприставкой INCAX-SIGHT
CODE:
18 000.00
₽
+
−
Add to cart
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур на SEM микроскопе S-4800
CODE:
18 000.00
₽
+
−
Add to cart
Исследование элементного состава образца с картированием по 3 областям на сканирующем электронном микроскопе Quattro с возможностью работы в низком вакууме
CODE:
24 000.00
₽
+
−
Add to cart
Исследование элементного состава образца на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме Quattro S
CODE:
14 000.00
₽
+
−
Add to cart
Исследование поверхности, исследование топографии микро- и нанообъектов на сканирующем электронном микроскопе Philips SEM515
CODE:
9 800.00
₽
+
−
Add to cart
Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S
CODE:
14 000.00
₽
+
−
Add to cart
Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов
CODE:
30 000.00
₽
+
−
Add to cart
Изучение морфологии и поверхности образца на сканирующем электронном микроскопе Quattro с низким вакуумом и детектором обратно рассеянных электронов
CODE:
20 000.00
₽
+
−
Add to cart
Измерения линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведение локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком на микроскопе JIB-4500
CODE:
20 000.00
₽
+
−
Add to cart
Изготовление и визуализация кросс секции на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
CODE:
32 000.00
₽
+
−
Add to cart
Визуализация многослойных структур и гетероструктур с атомарным разрешением на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
CODE:
130 000.00
₽
+
−
Add to cart
Аренда сканирующего электронного микроскопа Quattro S с возможностью работы в низком вакууме (с оператором ЦКП) за час
CODE:
9 000.00
₽
+
−
Add to cart
Аренда двухлучевого сканирующего электронного микроскопа Helios G4 Plasma FIB Uxe (с оператором ЦКП) за час
CODE:
16 000.00
₽
+
−
Add to cart
Pages
Исследования и тесты на SEM сканирующем электронном микроскопе