Москва

Поиск

+7(495)661-61-09Пн-Пт: 9:00-18:00
Заказать обратный звонок

Элементы обозначенные тегом "SEM исследование":

Товары

Сортировать по алфавиту: от А до Я
50 На страницу
Аренда двухлучевого сканирующего электронного микроскопа Helios G4 Plasma FIB Uxe (с оператором ЦКП) за час
16 000.00 ₽
Просмотр
Аренда сканирующего электронного микроскопа Quattro S с возможностью работы в низком вакууме (с оператором ЦКП) за час
9 000.00 ₽
Просмотр
Изготовление и визуализация кросс секции на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
32 000.00 ₽
Просмотр
Измерения линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведение локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком на микроскопе JIB-4500
20 000.00 ₽
Просмотр
Измерения размеров микро- и нано-структуры тонкопленочных образцов на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis
8 000.00 ₽
Просмотр
Изучение морфологии и поверхности образца на сканирующем электронном микроскопе Quattro с низким вакуумом и детектором обратно рассеянных электронов
20 000.00 ₽
Просмотр
Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов
30 000.00 ₽
Просмотр
Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S
14 000.00 ₽
Просмотр
Исследование поверхности, исследование топографии микро- и нанообъектов на сканирующем электронном микроскопе Philips SEM515
9 800.00 ₽
Просмотр
Исследование элементного состава образца на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме Quattro S
14 000.00 ₽
Просмотр
Исследование элементного состава образца с картированием по 3 областям на сканирующем электронном микроскопе Quattro с возможностью работы в низком вакууме
24 000.00 ₽
Просмотр
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур на SEM микроскопе S-4800
18 000.00 ₽
Просмотр
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, элементный анализ от В до U на растровом электронном микроскопе JSM-6460LV и микроприставкой INCAX-SIGHT
18 000.00 ₽
Просмотр
Лабораторное исследование, получение нано- и микро-изображений, спектральный точечный тест на электронном сканирующем микроскопе JSM-6490LV
5 200.00 ₽
Просмотр
Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
34 000.00 ₽
Просмотр
Элементный анализ микрообъектов с использованием метода сканирующей электронной микроскопии
15 950.00 ₽
Просмотр
Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
62 000.00 ₽
Просмотр