Москва

Поиск

+7(495)661-61-09Пн-Пт: 9:00-18:00
Заказать обратный звонок

Элементы обозначенные тегом "SEM исследование":

Товары

Сортировать по алфавиту: от А до Я
12 На страницу
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, элементный анализ от В до U на растровом электронном микроскопе JSM-6460LV и микроприставкой INCAX-SIGHT
18 000.00 ₽

Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, элементный анализ от В до U на растровом электронном микроскопе JSM-6460LV и микроприставкой INCAX-SIGHT

+ −
Купить в один клик
Лабораторное исследование, получение нано- и микро-изображений, спектральный точечный тест на электронном сканирующем микроскопе JSM-6490LV
5 200.00 ₽

Лабораторное исследование и получение изображения на электронный сканирующем микроскопе JSM-6490LV

+ −
Купить в один клик
Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
34 000.00 ₽

Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

+ −
Купить в один клик
Элементный анализ микрообъектов с использованием метода сканирующей электронной микроскопии
15 950.00 ₽

Элементный анализ микрообъектов с использованием метода сканирующей электронной микроскопии

+ −
Купить в один клик
Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
62 000.00 ₽

Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM

+ −
Купить в один клик
 Назад
1 2
Вперед