Москва

Поиск

+7(495)661-61-09Пн-Пт: 9:00-18:00
Заказать обратный звонок

Результаты поискаНайдено товаров: 27

Сортировать по алфавиту: от А до Я
50 На страницу
Анализ морфологии частиц на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
24 000.00 ₽
Просмотр
Аренда сканирующего электронного микроскопа Quattro S с возможностью работы в низком вакууме (с оператором ЦКП) за час
9 000.00 ₽
Просмотр
Визуализация наночастиц с использованием электронной томографии на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором
222 000.00 ₽
Просмотр
Изготовление и визуализация кросс секции на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
32 000.00 ₽
Просмотр
Измерения линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведение локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком на микроскопе JIB-4500
20 000.00 ₽
Просмотр
Изучение кристаллографической ориентировки зеренной структуры на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
Свяжитесь с нами насчёт цены
Просмотр
Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца по линии на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
60 000.00 ₽
Просмотр
Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов
30 000.00 ₽
Просмотр
Исследование морфологии поверхности на SEM сканирующем электронном микроскопе
9 000.00 ₽
Просмотр
Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S
14 000.00 ₽
Просмотр
Исследование поверхности, исследование топографии микро- и нанообъектов на сканирующем электронном микроскопе Philips SEM515
9 800.00 ₽
Просмотр
Исследование элементного состава образца на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме Quattro S
14 000.00 ₽
Просмотр
Исследование элементного состава образца с картированием по 3 областям на сканирующем электронном микроскопе Quattro с возможностью работы в низком вакууме
24 000.00 ₽
Просмотр
Количественное определение 9-ти водорастворимых витаминов: витамины группы В: тиамин (В1), рибофлавин (В2), никотиновая кислота (РРк), никотинамид (РРа), пантотеновая кислота (В5), пиридоксин (В6), биотин (Н), фолиевая кислота (В9), цианокоболамин (В12)
11 000.00 ₽
Просмотр
Количественное определение аминокислотного состава в известном количестве белках, (ASP, THR, SER, GLU, GLY, ALA, VAL, MET, ILEU, LEU, PHE, TYR, LYS, AMMONIA, ARG)(аспаргиновая кислота, треонин, серин, глутаминовая кислота, пролин, глицин, аланин, цистеин,
8 200.00 ₽
Просмотр
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур на SEM микроскопе S-4800
18 000.00 ₽
Просмотр
Лабораторное исследование, получение нано- и микро-изображений, спектральный точечный тест на электронном сканирующем микроскопе JSM-6490LV
5 200.00 ₽
Просмотр
Нанесение токопроводящих покрытии для исследования образца методом электронной микроскопии
3 000.00 ₽
Просмотр
Определение антиоксидантной активности на приборе Цвет Яуза А01-АА
4 000.00 ₽
Просмотр
Определение содержания триптофана (TRP) методом ионообменной хроматографии с постколоночной дереватизацией нингидрином на Аминокислотном анализаторе LC-20 Prominence
2 400.00 ₽
Просмотр
Определение элементного состава микроучастка поверхности на растровом электронном микроскопе с помощью приставок для волнодисперсионного или энергодисперсионного ренгенофлуоресцентного анализа
20 000.00 ₽
Просмотр
Получение изображения поверхности образца методом сканирующей электронной микроскопии
10 800.00 ₽
Просмотр
Получение снимка поверхности на SEM растровом электронном микроскопе
9 000.00 ₽
Просмотр
Приготовление тонких срезов образцов для исследования методом электронной микроскопии
3 000.00 ₽
Просмотр
Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
34 000.00 ₽
Просмотр
Элементный анализ микрообъектов с использованием метода сканирующей электронной микроскопии
15 950.00 ₽
Просмотр
Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
62 000.00 ₽
Просмотр